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Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 适用于截面结构
徕卡切割机Leica EM TIC 3X 可以用在纳米材料行业领域,用来检测半导体芯片,可完成截面结构项目。符合多项行业标准。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的
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切割机Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X 可检测电镜制样产品
波术对样品进行处理、样品受到形变或损伤的可能性低,可暴露出样品内部真实的结构信息。徕卡 M IC 3X可以灵活选择多种样品台,不仅适用于高通量实验,也话合于特定制样需求实验室。依据您具体需求、每一台
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M3 微波消解仪
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氙灯老化试验箱厂商
现有材料或评估材料组成变化后耐用性的变化试验。3.可以很好的模拟在不同环境条件下,材料暴露在阳光下所产生的变化。4.若试验样品不大或不多,建议使用台式氙灯,可以达到同样的效果。氙灯耐气候试验是科研
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