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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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TRACE 6000 膜进样光电离飞行时间质谱仪
产品概述TRACE 6000是一款紧凑型挥发性有机物(VOCs)实时分析质谱仪,该仪器采用膜进样技术、光电离技术和飞行时间质谱技术,具有定性定量能力强、灵敏度高、分析速度快、线性范围广、操作简单
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8寸贴膜机 NDS208
NDS贴膜机NDS208 8寸贴膜机NDS贴膜机简介:提供适合6/8寸芯片使用,使用贴片环整片贴膜。主体部分为不锈钢、铝合金制作,质量可靠,性能稳定;操作简单,易懂易会。NDS贴膜机 产品特点
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Thermo Scientific 光感控制微孔板混匀器
标配微孔板夹具,适合科研、临床使用 • PID 控制保证连续的振荡和精确的温度控制 • 数字显示,便于观察 • 紧凑的设计可以方便地放置在冰箱和微生物
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TRACE 6050 膜进样电子电离飞行时间质谱仪
产品概述TRACE 6050是一款用于现场气态样品快速检测的实时分析质谱仪。该仪器通过膜进样系统直接取样,结合可调的电子电离技术和飞行时间质谱技术,具有可检测物质种类范围广、响应速度快、分辨率高
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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TP-99010FDR 粉末供应装置(成膜)
。还能够输送有着高聚集特性的1μm~纳米尺寸的微细颗粒。送粉速度在1~50g/分左右。 *自动控制速度(选配)为5g/分以上根据原料可以选择合适的送料板和喷嘴。使用可选的无震动单元,能够进一步减少震动
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紫外光旋转涂膜机
VTC-100PA-UV型紫外光旋转涂膜机、匀胶机、甩胶机、旋涂仪、spin coater适用于半导体工艺、晶体、光盘、制版及表面涂覆等工艺。该机腔体采用聚丙烯材质,耐腐蚀且使用寿命长,可用于强酸
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普迈Mini HES 封膜仪
Mini HES封膜仪 主要应用在常规PCR实验96/384孔板封板;大体系的反应、贮存及运输的深孔板封板。Mini HES封膜仪特殊的仪器结构和加热模块设计,解决了封膜不严密,漏液
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