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精微高博比表面BET比表面积测试仪 应用于地矿/有色金属
精微高博BET比表面积测试仪JW-DX-01用于测定粉体材料,符合行业标准。适用材料分析项目。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品5min,测试结果由软件自动实时得出
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贝士德BSD-BET400 全自动快速比表面分析仪 用于电池材料
高效率:全世界测试效率最高的比表面测试系统;BSD-BET400配合BSD-AD8八站预处理机,分析能力可达12个样品/小时,且包含30min预处理
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bet吸附仪冠测BETA202A 应用于纺织/印染
bet吸附仪冠测BETA202A 应用于纺织/印染有特定规范与标准,应用于纺织/印染行业领域。点击查看相关规范标准。 比表面积及孔径测试仪
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单点和多点BET比表面积分析仪
适用产品多:包括测量建材、石墨、电池材料、沸石、碳材料、分子筛、二氧化铝、土壤、有机化合物等粉体以及各种块材、片材、高分子纤维等。 功能强大,包含目前所有的数据处理方法:单点和多点BET比表面积。
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单点和多点BET比表面积分析仪
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白炭黑专用BET比表面积测试仪精微高博孔径分析仪 可检测材料
精微高博孔径分析仪JW-BK222参考多项行业标准。完成材料的检测。可以用在纳米材料行业领域中的材料分析项目。 BET比表面积是包含外表面和所有通孔的内表面积在内的总表面积;外表面是扣除小于2nm
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BET比表面快速测试仪jwgb-BK200系列孔径分析仪 应用于稀土
精微高博BET比表面快速测试仪jwgb-BK200系列可以用在高分子材料行业领域,用来检测材料,可完成材料分析项目。符合多项行业标准。 BET比表面积是包含外表面和所有通孔的内表面积在内的总表
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BET比表面快速测试仪孔径分析仪jwgb-BK200系列 应用于炭黑
精微高博孔径分析仪jwgb-BK200系列参考多项行业标准。完成材料的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的材料分析项目。 BET比表面积是包含外表面和所有通孔的内表面积在内的总表面积;外表面是扣除
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JW-DX-01精微高博BET比表面积测试仪 应用于电子/半导体
精微高博BET比表面积测试仪JW-DX-01可用于测定粉体材料,适用于材料分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于高分子材料行业领域。 bet比表面积仪 JW-DX型动态吸附bet比表面积仪
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BET比表面积测试仪精微高博JW-DX-01 应用于生物质材料
精微高博BET比表面积测试仪JW-DX-01适用于材料分析项目,参考多项行业标准。可以检测粉体材料等样品。可应用于功能材料行业领域。 重复精度: 比表面积≤± 1.0%;测试效率: 平均每个样品
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