-
德国 离子研磨仪 EM TIC 3X抛光机Leica EM TIC 3X 应用于纳米材料
徕卡抛光机Leica EM TIC 3X可以用在纳米材料行业领域,用来检测半导体芯片,可完成截面结构项目。符合多项行业标准。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的
-
Leica EM TIC 3X抛光机德国 离子研磨仪 EM TIC 3X 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖太阳能电池
徕卡德国 离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X用于测定太阳能电池,符合行业标准。适用截面结构项目。 方案摘要 三离子束切割仪 Leica EM TIC 3X几乎任何材质样品
-
RT-01快速纯化仪 固相萃取 多柱耦合提高 Nano-ESI-MS 的色谱分离
-
智博联湿膜涂料四面制备器
四面制备器用于涂布规定厚度的湿膜,以测定试样的遮盖力,色泽或制备样板等。特点:组合式四边形制备器,四面均可涂膜,对应不同的涂膜厚度。1:5um 10um 15um 20um2:25um 50um
-
徕卡Leica EM TIC 3X 德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 可检测半导体芯片
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 可用于测定半导体芯片,适用于截面结构项目。并且参考多项行业标准。可应用于纳米材料行业领域。 1.独特的三离子束系统,可获得
-
Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 应用于纳米材料
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 可用于测定半导体芯片,适用于截面结构项目。并且参考多项行业标准。可应用于电子/半导体行业领域。 1.独特的三离子束系统
-
Leica EM TIC 3X 徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3X 适用于截面结构
徕卡切割机Leica EM TIC 3X 可以用在纳米材料行业领域,用来检测半导体芯片,可完成截面结构项目。符合多项行业标准。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的截面处理质量,并可高效获得宽且深的
-
切割机Leica EM TIC 3X 德国离子研磨仪 EM TIC 3X 可检测电镜制样产品
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 适用于电镜制样产品资料_项目,参考多项行业标准。可以检测电镜制样产品等样品。可应用于多个行业领域。 LEICA EM TIC
-
普析多晶X射线衍射仪XD-2/XD-3/XD-6自动X射线粉末衍射仪
-
Waters 2695 with column heater and chiller/可配多种检测器/一年质保
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net