-
光谱成像椭偏仪
传统的椭偏仪作为一个强大的薄膜表征技术已经有超过100年的历史。而应用成像椭偏仪可以将被研究对象的尺寸下调到微米范围,此技术可以应用于微结构样品测试。例如,当今信息存储设备(如
-
椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于涂料
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测ZnO薄膜等样品。可应用于涂料行业领域。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可
-
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 应用于涂料
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测TiO2薄膜和多层减反膜等样品。可应用于其他化工行业领域。 技术参数: * 光谱范围
-
椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于涂料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成硫系玻璃的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱
-
SEMILAB-SE2000 全光谱椭偏测试平台
-
牛津仪器ALD OpAL原子层沉积系统
(ALD)设备,带有等离子选项适用于小尺寸至200mm的晶圆片蒸汽吸取或鼓泡四种液体或固体前驱体实时检测选项,包括与ALD控制软件相联的光谱椭偏仪ALD产品家族涵盖的系列设备可以满足学术界、企业研发和
-
HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 可检测溶液
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定溶液,适用于疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他生命科学行业领域。 技术参数
-
椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 硫系玻璃的表征
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域,用来检测硫系玻璃,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数
-
椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成介孔硅复合材料的检测。可以用在其他化工行业领域中的厚度,光学常数,各向异性项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
-
椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他化工
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,符合行业标准0。适用厚度,光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net