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Ultimate XS-C18测试Y01D实验报告
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来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
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NexION 300X+350X ICP-MS 满足美国EPA 6020B方法需求 Application Note (011973_CHN_01)
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来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品: 等离子质谱仪PerkinElmer 应用
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NexION 350Q SP-ICP-MS 定量评价纳米颗粒的溶解动力学 Application Note (011750_CHN_01)
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来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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ELAN 9000 ICP-MS EPA Method 200.8 方法改善饮用水和废水的分析性能 Application Note (008278_01)
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来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 应用
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电化学原理(李荻主编)01前言及目录
来源:semxuxu 资料
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NexION 2000 SP-ICP-MS 血清中钛的总颗粒分析和单颗粒分析 Application Note (014338_CHN_01 )
血清血清中钛的总颗粒分析和单颗粒分析NexION 2000 SP-ICP-MS 血清中钛的总颗粒分析和单颗粒分析 Application Note (014338_CHN_01 )
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NexION 2000 SP-ICP-MS 全集体进样系统测定海水中纳米颗粒 Application Note (014291_CHN_01)
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NexION 2000 SC-ICP-MS 定量癌症细胞对金纳米粒子的摄取率 Application Note (014276_CHN_01)
癌症细胞定量癌症细胞对金纳米粒子的摄取率NexION 2000 SC-ICP-MS 定量癌症细胞对金纳米粒子的摄取率 Application Note (014276_CHN_01)
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使用NexION 5000 SP-ICP-MS分析半导体级硫酸中的金属纳米颗粒 Application Note (943155_CHN_01)
半导体级硫酸分析半导体级硫酸中的金属纳米颗粒使用NexION 5000 SP-ICP-MS分析半导体级硫酸中的金属纳米颗粒 Application Note (943155_CHN_01)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION® 5000多重四极杆ICP-MS 应用
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使用NexION 5000 ICP-MS分析高纯度硅基质中的痕量污染物 Application Note (977083_CHN_01)
高纯度硅基质分析高纯度硅基质中的痕量污染物使用NexION 5000 ICP-MS分析高纯度硅基质中的痕量污染物 Application Note (977083_CHN_01)
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