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PROFILE ICP测定二次盐水痕量杂质
ICP 二次盐水由于高浓度NaCl的影响,准确测定二次盐水中的痕量杂质只能使用标准加入法。下面的方法主要针对Leeman Labs公司的Profile,Profile Plus垂直型ICP-AES。
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使用固相支持液液萃取 Chem Elut S 小柱通过 GC/MS 测定偶氮染料中的芳香胺
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Anal.Chem.原文:MassWorks谱图准确度
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