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X-ray sCMOS 16MP系列探测器
X-ray sCMOS 16MP 系列探测器该探测器系列提供95.5*95.5mm 的有效探测面积以及1600 万像素的分辨率。被预先沉积闪烁体可以覆盖从1KeV 到300KeV 的X-Ray 范围
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芯硅谷盖玻片
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Kromasil 100-5-C18 4.6x250mm
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Kromasil 100-5-C8 4.6x250mm
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CrossLab 多厂商法规认证服务 实验室法规认证对有效的分析结果至关重要
了专为满足法规要求而设计的确认服务。安捷伦撰写了四本详尽的白皮书系列,帮助实验室在确认时做出明智决策。 凭借安捷伦于实验室领域的 60 多年的宝贵经验, CrossLab 为安捷伦及多厂商的设备维护
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日本理学Simultix 15波长色散X射线荧光光谱仪
Simultix 波长色散X射线荧光光谱仪已交付给全球客户。随着这些年的技术进步,客户的要求也变得先进和多样化。Simultix 15 波长色散X射线荧光光谱仪专为满足这些不断变化的需求而开发。它提供
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理学 Simultix 15多道同时型X射线荧光光谱仪
Simultix 15多道同时型X射线荧光光谱仪全新推出的Simultix 15基于30年的经验积累而开发,是先进的全自动多道同时型X射线荧光光谱仪。可以满足当今高灵敏度,高通量,多功能的分析需要
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光学接触角3D形貌联用仪接触角测定百欧林 应用于空气/废气
产品参数参数方法名称基于条纹投影相移原理XY像素大小1.1 μm x 1.1 μmZ方向测量范围1 μm – 60 μm测样区域1.41 mm x 1.06 mm
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光学接触角3D形貌联用仪百欧林接触角测定 应用于其他制药/化妆品
1.1 μmZ方向测量范围1 μm – 60 μm测样区域1.41 mm x 1.06 mm (XY). (最大到: 4.2 mm x 4.2 mm)工作距离18 mm样品尺寸上限无限x 320 mm
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百欧林接触角测定光学接触角3D形貌联用仪 应用于塑料
参数方法名称基于条纹投影相移原理XY像素大小1.1 μm x 1.1 μmZ方向测量范围1 μm – 60 μm测样区域1.41 mm x 1.06 mm (XY). (最大到: 4.2 mm x
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