计量院中国北京二氧化硅纳米薄膜厚度标准物质 标准品 用途;用于实验分析做校准曲线,为实际样品建立定量关系;评价化学分析结果的准确度和精密度;评定确认标准分析检测方法;校准检测分析仪器;评定实验室的技术能力、考核分析操作人员技术水平
计量院中国北京铜铟镓硒薄膜原子分数标准物质 标准品 用途;用于实验分析做校准曲线,为实际样品建立定量关系;评价化学分析结果的准确度和精密度;评定确认标准分析检测方法;校准检测分析仪器;评定实验室的技术能力、考核分析操作人员技术水平
Beilstein号
:1.00mg/ml U=2%(k=2)货号:F283794Cas号:128-44-9存储温度:避光,室温产品介绍:使用注意事项打开后一次性使用。玻璃安瓿一经打开,不能再次熔封作为标准物质使用。有效期为12个月。查看阿拉丁官网此产品相关对应页面:https://www.aladdin-e.com/zh_cn/F283794.html
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中国计量院北京扩展不确定度(nm) (k=2) GBW13960 二氧化硅薄膜膜厚标准物质 SiO2层 100.6
中国计量院北京扩展不确定度(nm) (k=2) GBW13957 二氧化硅薄膜膜厚标准物质 SiO2层 20.26
中国计量院北京扩展不确定度(nm) (k=2) GBW13957 二氧化硅薄膜膜厚标准物质 SiO2层 12.30
中国计量院北京扩展不确定度(nm) (k=2) GBW13959 二氧化硅薄膜膜厚标准物质 SiO2层 57.62
广电计量广州 产品货号:A0803106
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