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椭圆偏光膜厚测试仪(自动)
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反射式膜厚测量仪
再现性测量紫外到近红外波长反射率光谱,分析多层薄膜厚度、光学常数(n:折射率,k消光系数)。? 宽阔的波长测量范围。(190nm-1100nm)? 薄膜到厚膜的膜厚测量范围。(1nm~250μm
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CrossLab 多厂商仪器服务
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酶标分析仪标准物质
一、产品简介酶标分析仪标准物质由吸光度标准物质、波长标准物质及灵敏度标准物质组成。标准定位架采用积木式结构,易于标准物质定值及仪器校准。GBW(E)130521波长标准物质用于检定/校准酶标
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海洋光学薄膜反射光谱仪系统NanoCalc
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filmetrics 台式膜厚测试仪 F20
快速有效地测量硅胶上SU-8 涂层单光斑和多点厚度.5.硅晶圆薄膜Filmetrics 提供台式系统, 测绘, 和生产测量 1nm 到 2mm 硅晶片和膜厚仪器系统。6.太阳光伏应用薄膜光伏薄膜光伏
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F60-t 薄膜厚度测量仪
寻找notch点、自动基准校正、封闭独立的测试平台和 已安装好软件的工业化电脑等。 可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如: 氧化硅氮化硅类金刚石DLC光刻胶聚合物聚
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CT-4日本膜厚计
膜厚计1、中文操作界面2、可打印出中文数据3、屏幕更大更清楚4、电流更加精确5、易连接记录器,测试多层镍变的更简单6、可以记忆一万以上的数据7、有5种统计功能供你选择8、不同表面处理方法9、5种镀层
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CT-3普及型膜厚计
、硬鉻、裝飾鉻、鋅、鎘、錫、鉛、銅、鈷、鎳、鐵、黑鉻普及型膜厚计 CT-3特性:1. 測量解析度:0.001um2. 可作單層、多層與線材測試膜厚測試3. 主機輕巧,操作
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大塚电子膜厚仪FE-300
适用范围●多层膜●非干涉膜●超晶格结构●光学薄膜(ARfilm、ITO)●FPD(ITO、PI、PC、CF) 非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析 FE-300膜厚仪产品特点●测试
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