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Surfix basic S统计型测厚仪 膜厚仪
型测厚仪膜厚仪特点:1.可换8种碳化钨超耐磨测头测铁基和有色金属基上镀层和涂层2.分辨率0.1μm3.根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm4.探头需另选购 Surfix
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一六 XAU专业性能型膜厚仪
全面升级下照式探测器款,多模态人机交互,搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。高性能探测器:搭配高性能探测器,在检测
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测
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膜厚光谱分析仪系统
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Filmetrics 膜厚测量仪 F37
Filmetrics膜厚测量仪 优势嵌入式在线诊断免费离线分析软件精细的历史数据功能,帮助用户有效的存储,重现与绘制测量结果免费现场演示/支持点几下鼠标就可以在网络上在线看到现场演示!请联系
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紧凑型高精度反射膜厚仪
技术参数型号SR-CVSR-CN基本功能获取薄膜厚度值以及R、N/K等光谱光谱波长范围380-800nm650-1100nm测量厚度范围50nm-20um100nm-200um测量时间
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F50 光学膜厚测量仪
所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球领导者• 24小时电话,E-mail和在线支持• 所有系统皆使用直观的标准分析软件 附加特性
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2B 405 nm NO2/NO/NOx 分析仪
性能指标测量模式仅NO2;仅NO;NO2、NO和NOx均测线性动态范围0~10,000 ppb (0~10 ppm); 0~2,000 ppb (0~2 ppm
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美国2B 106L/M/H 紫外臭氧分析仪
0-10 ppm 0.001 ppm (1 ppb) 2%读数 M106-M 0-1000 ppm 0.01 ppm 2%读数
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水分测定仪校准用标准物质
序号标准物质名称标准物质号标称值不确定度有效期包装1微量水标准物质(6#)GBW(E)1305143000μg/g20μg/g三年2mL/瓶2微量水标准物质(7#)GBW(E
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