-
快速分析型物理吸附仪JW-DX-02
,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理
-
全新COD 单参数分析仪
技术参数:Spectroquant® Picco单参数比色计 标准配置: 主机、便携箱、16mm圆形比色管适配器及盖子、9V电池、3个24mm圆形比色管(适用于Picco PH/O3/Cl2)或3个
-
GeneChip 3000Dx v.2 芯片扫描仪
一款坚固耐用的微阵列平台,适用于临床应用。它是唯一通过 FDA 批准、符合 IVDR 标准的微阵列系统,用于基于 RNA 和 DNA 的临床试验。
-
稀土材料比表面快速测试仪JW-DX
下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理方法
-
金属粉比表面快速测试仪JWGB-DX
,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理
-
DX 400 比表面积分析仪
-
动态法陶粒比表面分析仪JW-DX
-
白炭黑比表面快速测试仪JW-DX
,比表面下限降低一个数量级,非常适合电池正负极材料尤其是石墨等小比表面材料的检测。 (发明专利号201410320453.2) bet比表面积仪性能参数:仪器型号: JW-DX bet比表面积仪原理
-
NOVA60(A)多参数水质分析仪
-
NOVA30多参数水质分析仪
技术参数:技术指标:6档波长:340, 445, 525, 550, 605, 690 nm ,精度 : ± 2 nm, 半波宽:10 nm; 光度重现性: 0.001 A at 1.000
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net