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国产膜厚检测台阶仪
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国产探针接触式台阶仪
CP系列国产探针接触式台阶仪应用场景适应性强,其对被测样品的反射率特性、材料种类及硬度等均无特殊要求,能够广泛应用于半导体、太阳能光伏、光学加工、LED、MEMS器件、微纳材料制备等各行业领域。
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纳米级高精度台阶仪
CP系列纳米级高精度台阶仪配备了精密XY位移台、360°电动旋转平台和电动升降Z轴,可对样品的XYZ、角度等空间姿态进行调节,提高测量精度及效率。
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布鲁克台阶仪-表面轮廓仪
纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二管的研发以及材料科学领域。台阶仪Dektak XT能实现:· 使用温度条件:10-30℃;湿度:≤80
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德国布鲁克+DektakXT+台阶仪
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布鲁克台阶仪DEKTAKXT
表面轮廓仪)的技术突破,使纳米尺度的表面轮廓测量成为可能,从而可以广泛的应用于微电子器件,半导体,电池,高亮度发光二极管的研发以及材料科学领域。 台阶仪Dektak XT能实现:· 使用温度条件
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新拓XT-9906型 密闭式智能微波消解/萃取仪
微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种
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新拓XT-9916型密闭式智能微波消解/萃取仪
微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种
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探针接触式纳米测厚台阶仪
探针接触式纳米测厚台阶仪对测量工件的表面反光特性、材料种类、材料硬度都没有特别要求,样品适应面广,数据复现性高、测量稳定、便捷、高效,是微观表面测量中使用非常广泛的微纳样品测量手段。
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新拓XT-T6型密闭式智能微波消解/萃取仪
微波消解相比传统消解方法具有反应速率快,样品制备时间短,试剂消耗少,试剂空白值低,制样精度高等优点,可用于 AAS、AFS、ICP、ICP-MS等的样品前处理。睿科推出XT系列新拓微波消解仪,多种
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