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抛光机徕卡Leica EM TIC 3X 标准
抛光机徕卡Leica EM TIC 3X 标准有特定规范与标准,应用于其他生命科学行业领域。点击查看相关规范标准。 徕卡电镜制样流程 Leica Vienna -Since 1876 三离子束切割仪
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NovaSeq X 和NovaSeq X Plus测序系统
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摇床MAXQ3000模拟 SHKR 18X30 OPEN AIR ANALOG 240
产品特色 ● 有模拟型和数字型两种控制系统 ● 可以选择多种尺寸的平台 ● 实时监测振荡仪速度和时间 ● 具备三种偏心轮驱动装置,可以稳定地处理较重负载,保持震荡 均匀
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赛默飞波长色散X射线荧光光谱仪ARL Optim’X Thermofisher X射线荧光光谱仪介绍
赛默飞波散型XRFARL Optim’X可用于测定块状固体,液体,松散粉末,不规则样品,滤纸,薄膜 ,适用于元素分析项目。并且参考多项行业标准。可应用于水泥行业领域。 ThermoFisher
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X射线散射仪小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace 小角X-射线散射测试介孔材料内部孔洞
安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace适用于内部孔洞表征项目,参考多项行业标准。可以检测介孔材料等样品。可应用于高分子材料行业领域。 有巨大内表面的多孔材料通常被用来制备催化剂、分子筛
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抛光机Leica EM TIC 3X徕卡 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖半导体芯片
徕卡德国 离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X可以用在电子/半导体行业领域,用来检测半导体芯片,可完成截面结构项目。符合多项行业标准。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的
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徕卡Leica EM TIC 3X 切割机 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖半导体芯片
徕卡德国离子研磨仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 适用于截面结构项目,参考多项行业标准。可以检测半导体芯片等样品。可应用于纳米材料行业领域。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的
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徕卡Leica EM TIC 3X 切割机 用Leica EM TIC3X三离子束切割仪解剖半导体芯片
徕卡德国 三离子束切割仪 EM TIC 3XLeica EM TIC 3X 参考多项行业标准。完成半导体芯片的检测。可以用在纳米材料行业领域中的截面结构项目。 1.独特的三离子束系统,可获得最佳的
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安东帕Abbemat 3X00紧凑型数字折光仪 测量各种液体
关键功能用于质量控制的精确浓度测量Abbemat 3X00 系列可测量二元溶液的浓度。Abbemat 折光仪提供从醋酸到 Zeiss 的 200 多种方法,可以提供您所需的质量控制。折光率制药(根据
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X射线散射仪小角X-射线散射仪安东帕 可检测粒
安东帕小角X-射线散射仪安东帕SAXSpace参考多项行业标准。完成沉积在硅基底的FeO 纳 米 颗 粒的检测。可以用在纳米材料行业领域中的化学品检测纳米结构分析项目。 沉积在硅基底的FeO纳米颗粒
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