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薄膜纳米厚度测量仪 F54
薄膜纳米厚度测量仪自动化薄膜厚度分布图案系统依靠F54先进的光谱测量系统,可以很简单快速地获得大直径450毫米的样品薄膜的厚度分布图。采用r-θ极坐标移动平台,可以非常快速的定位所需测试的点并测试
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薄膜厚度测量仪ST2000-DLXn
仪器简介: 1996年以来,科美在半导体,平板显示器,电子物质,生命科学和化学分析上,研发和提供了独特的,先进的解决方案。科美,作为测量和分析技术市场上的领头和动力,以它突出
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蛋壳厚度测量仪 FHK NFN380
蛋壳厚度测量仪NFN380测定接点呈圆球状,适合类似蛋壳表面等球面物体的厚度测定。测定精度为1/100mm。操作简单,只需将蛋壳夹在测定接点和测定子之间便可得出测定
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蛋壳厚度测量仪Bulader-M20
蛋壳厚度测量仪Bulader-M20测定接点设计呈圆球状,设计测量禽类蛋壳厚度的锐角设计,测定精度为 1/100mm,操作简单,只需将蛋壳夹在测定接点和测定子之 间便可迅速
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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
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聚合物薄膜厚度方向热电性能评价系统-ZEM-d
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薄膜厚度及三维影像测量仪
仪器简介:ST5030--3DT薄膜厚度及三维影像度测量仪可以用于测量物体表面细微的三维影像 从而计算出表面凹凸物的高度,而且还有测量硅片(或玻璃)上精密薄膜的厚度 (如SiO2
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薄膜厚度测量仪(光反射膜厚仪)
等上的粗糙膜层。 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光 系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且 快速的光学薄膜厚度测量技术
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薄膜,片材在线测厚仪
仪器简介:热电瑞美公司RM200在线测量和控制系统是专门设计应用于薄膜生产线,可以在线测量薄膜的厚度,并反馈信号自动控制模头螺栓,使薄膜厚度均匀,提高产品质量,降低原材料消耗。热电瑞美公司在上海建有
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薄膜厚度测量系统TF200
产品简介:TF200薄膜厚度测量系统利用薄膜干涉光学原理,对薄膜进行厚度测量及分析。用从深紫外到近红外可选配的宽光谱光源照射薄膜表面,探头同位接收反射光线。TF200根据反射回来的干涉光,用反复
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