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求教,用常规XRD测试(学校设备不能做掠入角)纳米级别的薄膜样品,要注意什么? 怎么设置可以得到更好的图谱? 可以降低背底的影响。,如果你只有粉末衍射仪,基本上做不起来,除非是转靶,尽量扫得慢一些吧。,如果用普通的粉末测试仪,具体怎样设定参数才能获得更好的数据呢?,同问XRD测试薄膜 测试的深度一般是多少呢?
2011年08月25日发布人:新手上路
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我做的拉伸曲线,如下图所示,其中去掉引申计时力值下降,中间有一部分由于试样的原因力值也下降了,各位有什么好的办法将其中的数据除去吗?还有,如何转化成工程应力-工程应变和真应力-真应变曲线?,读取数据之前可以设置应力-应变值的、但是你现在
2015年09月29日发布人:冰激凌
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用匀胶机在硅片上旋涂得到的有机薄膜。拿去红外测试居然和空白硅片谱图差不多。不知道什么原因。
我的是40nm,不知道是不是太薄了。一般测红外有机薄膜得 厚度 要多少。有谁知道。谢谢啦,有没先做空白扣除呀!薄了你扫描次数多几次,要不你再制厚
2013年05月02日发布人:美丽婷婷
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我不会选的参数有:
测量模式的选择:有松弛、蠕变、应变扫描、应力扫描五种!
起始温度,升温速率还有温度的平衡时间!
测试所使用的温度段类型(包括恒温、动态、步进恒温三类)
终止温度与所使用的升温速率
测量所使用
2011年05月24日发布人:古灵
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最近跟着老板做材料应力分析
老板给了个软件QUANTO
不太回用啊有没有用过的给点意见或者建议要是有教程或者案例就最好了
另外用XRD做应力分析,除了JADE还有什么比较好的软件大家推荐赐教下谢谢,你好,我想问
2015年10月09日发布人:happydream
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电极体系?
还是?
具体参数设置呢
谢谢了先,我们实验室有型号为:PAR2273的电化学工作站一台,在线等待您的回复,谢谢,四探针电阻仪测量薄膜 为什么上不去呢? 你薄膜样品尺寸多大的 ?
薄膜样品尺寸:30nm---30μm 样品面积25mm² 能行不?
[local]1[
2016年04月29日发布人:efp
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[size=2]相关检测项目:
红外
谢谢大家帮忙![/size],[size=2]在溴化钾窗片上薄薄地涂上一层不就可以测试了吗。使用一个多用插板(200元),把溴化钾窗片(200元)放在插板上即可。[/size],[quote
2016年02月20日发布人:call
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进行化学分析,但得到的结果并不是真正好的结果。
一般文献上的方法都只会提供主要参数,如升温程序,离子源的温度等,其实在GC/MS的仪器设置中还有一些是比较重要,而且这些参数的设置应该随测试的不同而不同。以如何提高GC/MS的灵敏度来讨论仪器设置的重要性(仪器以安捷伦GC/MS7890/5973为例)。
如何新建仪器方法,
2015年06月11日发布人:吴才子
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AFM图分析:最近用AFM测了薄膜的表面形貌,但是那软件不太会用,比如薄膜上有杂质产生了阴影,平滑什么的不怎么会,还有就是那个剖面图中字母代表什么意思(在图中圈起来的)。我们用的软件是SPI3800I。,白的那一块要么是样品太高了要么是
2015年12月31日发布人:xgy412
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[size=2]谢谢大家帮忙[/size],[size=2]在溴化钾窗片上薄薄地涂上一层不就可以测试了吗。使用一个多用插板(200元),把溴化钾窗片(200元)放在插板上即可。[/size],[quote]原帖由 [i]zzzz[/i
2016年04月20日发布人:call