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美杏高德-药明康德IPP实验海报
来源:上海腾泉生物科技有限公司(原美杏高德) 相关产品:美杏高德i-Pipette 系列移液工作站 应用
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气相色谱法测定高纯气体中氧、氮杂质时出现反峰的原因分析
来源:bluedays 资料
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南京瑞尼克现货特氟龙FEP/PFA试剂瓶-样品瓶-取样瓶
1000 11、规格参考: 12、PFA系列产品: 取样瓶、洗瓶、滴瓶、容量瓶、量杯、烧杯、离心管、消解管、溶样罐、消解瓶、各种管类、接头阀门类、洗气瓶、各厂家微波消解罐盖子以及其他定制产品等。
来源:南京瑞尼克科技开发有限公司销售三部 相关产品:存放有机溶剂-强酸强碱专用特氟龙FEP/PFA/PTFE四氟试剂瓶-规格齐全 资料
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高纯氘中杂质的低温气相色谱分析
来源:fzdxlfw 资料
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NexION 300S ICP-MS 测定半导体级TMAH中的杂质 Application Note (010283_01_CN)
TMAH测定半导体级TMAH中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级TMAH中的杂质 Application Note (010283_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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使用自动标准添加系统(ASAS)-ICP-MS分析半导体级化学品 Application Note (542645 _ CHN _01)
化学品半导体级化学品使用自动标准添加系统(ASAS)-ICP-MS分析半导体级化学品 Application Note (542645 _ CHN _01)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 应用
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NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硫酸中的杂质 Application Note (010282_01_CN)
硫酸测定半导体级硫酸中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硫酸中的杂质 Application Note (010282_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硝酸中的杂质 Application Note (010280_01_CN)
硝酸测定半导体级硝酸中的杂质NexION 300S ICP-MS 测定半导体级硝酸中的杂质 Application Note (010280_01_CN)
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 相关产品:NexION 350系列ICP-MS-MS-MS三重四极杆串级电感耦合等离子体质谱仪 应用
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GB/T 6682-2008 分析实验室用水规格和试验方法
来源:vvyouttjean 资料
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120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400
透射电子显微镜 JEM-1400120kV高衬度透射电子显微镜_JEM-1400 仪器描述 主要特点 主要参数
来源:日本电子株式会社(JEOL) 资料
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