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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析工业气体流
方法和工厂测试结果旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个填充柱,实现理想的色谱柱管理具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品完全转移优化系统占地面积,减少工作台空间需求双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪
详细流动和管道示意图备件清单方法和工厂测试结果旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个填充柱,实现理想的色谱柱管理具有即时连接探测器模块
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个填充柱,实现理想的色谱柱管理用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱加热样品隔板确保样品
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
填充柱,实现理想的色谱柱管理具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析氢气中的痕量杂质
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析工业气体流
方法和工厂测试结果旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个填充柱,实现理想的色谱柱管理具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
个填充柱,实现理想的色谱柱管理具有即时连接探测器模块,可在几分钟内完成探测器更换,从而延长正常运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门、转头和传动装置加热样品隔板确保样品
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