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海洋光学薄膜反射光谱仪系统NanoCalc
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F60-t 薄膜厚度测量仪
寻找notch点、自动基准校正、封闭独立的测试平台和 已安装好软件的工业化电脑等。 可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如: 氧化硅氮化硅类金刚石DLC光刻胶聚合物聚
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filmetrics 台式膜厚测试仪 F20
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CT-4日本膜厚计
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合CT-4日本膜厚计可测量电镀单层、多层、合金层之膜厚。适合行业:汽机车及自行车业、电镀业、电子业、品检单位。【详细说明】CT-4日本
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CT-3普及型膜厚计
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合普及型膜厚计 CT-3可測鍍層:金、銀、銦、硬鉻、裝飾鉻、鋅、鎘、錫、鉛、銅、鈷、鎳、鐵、黑鉻【详细说明】 可測鍍層:金、銀、銦
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大塚电子膜厚仪FE-300
适用范围●多层膜●非干涉膜●超晶格结构●光学薄膜(ARfilm、ITO)●FPD(ITO、PI、PC、CF) 非线性最小二乘法实现折射率和消光系数解析 FE-300膜厚仪产品特点●测试
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Surfix basic S统计型测厚仪 膜厚仪
【简单介绍】品牌其他品牌价格区间面议产地类别进口应用领域综合Surfix basic S可换探头统计型测厚仪 膜厚仪根据所选探头:精度可达±0.7μm+1%,读数或范围可达10mm
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一六 XAU专业性能型膜厚仪
全面升级下照式探测器款,多模态人机交互,搭载先进的EFP算法软件同时升级成新一代微纳米芯片及元器件,在检测多层合金、上下元素重复镀层及渗层时更加精准、稳定。高性能探测器:搭配高性能探测器,在检测
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X射线荧光膜厚仪XTU-40
产品简介: 微聚焦加强型X射线装置:可测试各类极微小的样品,即使检测面积为0.003mm²的样品也可轻松、精准检测 变焦装置及位置补偿算法:可对各种异性凹槽进行检测
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膜厚光谱分析仪系统
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