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日本KETT 膜厚计 LZ-990
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棱镜耦合仪Model 2010
棱镜耦合波导测试仪Metricon 公司 的Model 2010 棱镜耦合仪使用先进的光波导技术,对电介质及聚合物膜的膜厚和折射率/ 双折射进行快速及准确的测量。对于许多薄膜及光波导用途,Model
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薄膜,片材在线测厚仪
装置、即在铸(厚)片处和双向拉伸后的成品膜处各配置一台测厚装置,其中厚片处可以采用贝它射线传感器和“O”扫描架,薄膜处可以根据用户要求,选配贝它射线,X射线或红外线传感器和“O”型扫描架。在实际应用中
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薄膜太阳能电池膜厚仪
disk...技术参数:波长范围:350~ 840 nm 膜厚范围:10nm~30um 测试速度: < 1秒/点 参数分析:厚度,R,N,K,表面粗糙。 主要特点:— 一台仪器上可增加多种检测头,如
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日本KETT 电磁膜厚计 L-2B
L-2B电磁膜厚计特点:测量薄的电镀层,如油箱内部和车船的油漆厚度L-2B电磁膜厚计 测定方法:电磁式 测定对象:磁性基体的非磁性涂镀层 测定范围:A栏:0~500 B栏:0.3~5mm 探头:双
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日本KETT 电磁膜厚计 LE-200J
日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪 日本KETT LE-200J膜厚计/涂层测厚仪的技术参数: 测定方法 电磁式 测定对象
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芯硅谷 PVC薄膜
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厚壁斜两口瓶
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芯硅谷 数显测厚表
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薄膜厚度测量仪(光反射膜厚仪)
等上的粗糙膜层。 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉,干涉的发生与膜厚及折光 系数等有关,因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且 快速的光学薄膜厚度测量技术
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