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膜厚仪
膜厚仪产品特点: (1)采用光谱干涉原理进行测量,具有非接触、无破坏、快速等特点; (2)可在真空环境使用; (3)可与大行程工件台配合,实现大面积膜厚自动测量;
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膜厚仪
仪器简介: 膜厚仪适用于半导体,FPD,太阳能电池(ARC)、纳米技术,电子材料及特殊薄膜等的膜厚及其相关光学参数的测量。 目前该产品已广泛应用于半导体、平板显示(TFT-LCD
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芯硅谷 D6228 机械百分测厚表
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日本KETT 电磁膜厚计 デルタスコープFMP30
日本KETT 电磁膜厚计 デルタスコープFMP30技术参数表:仕様 デルタスコープFMP30測定方式 電磁誘導式測定対象 磁性金属測定範囲・精度 プローブにより異なり
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双开门标准物质冰柜
双开门标准物质冰柜 福意联创办于1999年,是一家集产品的、和为一体的企业,并采用高性能以及医用材料的设备,深受市场好评,并了北京市药品监督器械颁发的企业证。了体系9001:2008、体系
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BS/JEBG/EBG 系列电子束蒸镀用电子枪
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Filmetrics F3-sX薄膜厚度测量仪
F3-sX 系列薄膜厚度测量仪满足薄膜厚度范围从15nm到3mm的先进厚度测试系统 F3-sX家族利用光谱反射原理,可以测试众多半导体及电解层的厚度,可测大厚度达3毫米。此类厚膜,相较于较
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紧凑型高精度反射膜厚仪
产品简介:SR-C系列紧凑型高精度反射膜厚仪,利用光学干涉原理,通过分析薄膜表面反射光和薄膜与基底界面反射光相干涉形成的反射谱,快速准确测量薄膜厚度、光学常数等信息。反射膜厚仪广泛应用于各种介质保护膜
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125μm聚酯薄膜气体透过量标准膜
【标准物质种类】 气体透过量标准物质: 125μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130541300μm聚酯薄膜气体透过量标准物质 GBW(E)130542水汽
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芯硅谷 F6625 塞尺片,0.05mm-0.09mm厚
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