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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量触摸屏膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量太阳能膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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奥谱天成ATGX310系列 光学薄膜厚度测量仪 适合测量汽车车灯膜厚测量
光学薄膜厚度测量系统,是利用薄膜反射光干涉的原理,对薄膜进行厚度测量及分析。它非常适合测量半导体、LCD、TFT、PDP、LED、触摸屏、汽车车灯、医学、太阳能、聚合物薄膜、眼镜等光学元件的膜厚测量。
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F50 光学膜厚测量仪
需要的测试点。只需掌握基本电脑技术便可在几分钟内建立自己需要的图形模式。可测样品膜层基本上所有光滑的。非金属的薄膜都可以测量。可测样品包括:选择Filmetrics的优势• 桌面式薄膜厚度测量的全球
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透射电镜(TEM)用氮化硅薄膜窗口
透射能谱等广泛的科学研究领域,例如,X-射线(上海光源透射成像/能谱线站)、TEM、SEM、IR、UV等。 现在SHNTI可以提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下
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反射式膜厚测量仪FE-3000
反射式膜厚量测仪的产品特点完美对应紫外到近红外(190~1600nm)广波长范围。利用高分辨率传感器,可对应厚膜以及超厚膜样品类型:0.8~1mm利用非线性*小二乘法薄膜解析软件,可解析多层薄膜的膜
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国产膜厚检测台阶仪
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UVISEL 椭偏仪堀场HORIBA 适用于膜厚检测
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定DNA传感器垫片,符合行业标准0。适用膜厚检测项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm
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薄膜,片材在线测厚仪
装置、即在铸(厚)片处和双向拉伸后的成品膜处各配置一台测厚装置,其中厚片处可以采用贝它射线传感器和“O”扫描架,薄膜处可以根据用户要求,选配贝它射线,X射线或红外线传感器和“O”型扫描架。在实际应用中
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F60-t 薄膜厚度测量仪
。 可测样品膜层基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。例如: 氧化硅氮化硅类金刚石DLC光刻胶聚合物聚亚酰胺多晶硅非晶硅硅 相关应用液晶显示器盒厚/聚酰亚胺/ITO生物医学聚对二甲苯
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