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三重四极杆 ICP-MSICP-MS安捷伦 可检测纳米颗粒标准物质
安捷伦ICP-MSAgilent 8900 可用于测定 Au 纳米颗粒标准物质,适用于金纳米颗粒项目。并且参考多项行业标准 EU, 2011a.Commission recommendation
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芯硅谷 P4804 Chemfluor® PTFE膜 聚四氟乙烯膜 PTFE活化膜
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氮化硅薄膜窗口/窗格
。 RISUN提供X-射线显微成像/能谱(同步辐射)用氮化硅薄膜窗系列产品,规格如下: 外框尺寸 (4种标准规格): • 5 mm x 5 mm (窗口尺寸:1.0 mm 或和 1.5 mm 方形
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疏水性氮化硅薄膜窗
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指针式膜厚计
1.能够测量涂装和树脂涂层、天花板等一些材料涂装膜厚度的专用设备.2.因为很轻便,操作起来比较容易. 特点:便于使用的小形底座目量0.01mm测量范围5mm 产品特点:型号目量(mm)测量范围(mm
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指针式膜厚计
1.能够测量涂装和树脂涂层、天花板等一些材料涂装膜厚度的专用设备.2.因为很轻便,操作起来比较容易. 特点:便于使用的小形底座目量0.01mm测量范围5mm 产品特点:型号目量(mm)测量范围(mm
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指针式膜厚计
)指示误差(um)测定子形状(mm)标准测定子配件型号测定力(N)质量(g)DM-2640.015±10针状ZS-5181.4以下230 指针式膜厚计
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CM100膜厚仪
产品名称CM100膜厚仪主要特点1.操作简单,使用方便2.测量快速、准确3.体积小、重量轻,便携式4.高性价比无损测量技术参数1. 光谱范围:370-1000nm2. 光谱分辨率:1.6nm3.
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堀场HORIBAUVISEL 椭偏仪 可检测TiO2薄膜和多层减反膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定TiO2薄膜和多层减反膜,适用于厚度,光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于涂料行业领域。 仪器简介
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日本电子BS/JEBG/EBG 系列电子束蒸镀用电子枪 化合物
是一大特征。对形成1µm 以上的厚膜也很有效。产品特点:用于光学薄膜及电极膜等各种薄膜形成的电子束蒸镀用电子枪/电源。产品规格:型号zei大输出功率偏转角度灯丝电子束扫描坩埚氧化物金属
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