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请问各位大虾:
1. 在购买XRD时,需要看哪些参数?
如关于X射线光源部分、测试仪部分、探测器部分等,分别需要看哪些参数?
2. 如果做器件测试方面的研究,还需要配哪些附件?
谢谢!,配备具有
2016年03月05日发布人:jiushi
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我现在使用TA 的Q800 做高分子薄膜材料的模量测试,用的tension :film模式,样品厚度为0.04mm, 模量为2000-3000MPa, 但是在测试过程中发现实验参数amplitude 和 reload force 对实验的
2011年05月24日发布人:学者
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[size=2]Agilent 7890B 气相色谱仪 核心参数有哪些?[/size],[size=2] 就是技术指标吧? 灵敏度什么的?[/size],[size=2]这问题问得太有深度了吧,一时竟不知该从何说起。。。[/size
2016年01月30日发布人:夕阳
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最近在做一个稳态热分析的 事情,是一个芯片的热分析,芯片的结构是简单的多层结构,从上到下的结构参数如下(mm)
我在最上面的芯片上施加了一个热,底部强制换热,结果两种结构的结果差距很大,不知道是为什么,有人可以解答一下吗?,你这是一个
2015年12月06日发布人:jishiben
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氧化沟那种形式的比较好,各有什么优缺点。
运行上需要注意哪些参数的控制?,看处理水量啦?还有是什么类型的废水。我们做深沟氧化沟,水深9米。 这样占地面积半是普通的、造价是普通的70%,氧利用率可以达到32%。,9米的深沟,运行成本
2015年10月16日发布人:星星……
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[size=3][b] 主帖问题及相关解答汇总[/b][/size]
[size=3][b] 1.质量范围不同对检测样品有什么不同吗?单电荷和多电荷在描述质量范围上有什么不同吗?[/b][/size]
[size=3] A:质量范围越小,所得的信号越强。[/size
2012年04月03日发布人:mj231251
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最近在做一个稳态热分析的 事情,是一个芯片的热分析,芯片的结构是简单的多层结构,从上到下的结构参数如下(mm)
我在最上面的芯片上施加了一个热,底部强制换热,结果两种结构的结果差距很大,不知道是为什么,有人可以解答一下吗?,你这是一个
2015年10月14日发布人:大嘴猴
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最近在做一个稳态热分析的 事情,是一个芯片的热分析,芯片的结构是简单的多层结构,从上到下的结构参数如下(mm)
我在最上面的芯片上施加了一个热,底部强制换热,结果两种结构的结果差距很大,不知道是为什么,有人可以解答一下吗?,你这是一个
2015年01月31日发布人:xiaoxiaoai
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这里主要指火焰法,有不少参数对测定的准确度和灵敏度影响很大
比如狭缝宽度,波长,燃气流量,灯电流,负高压,空压机和乙炔分压,燃烧头高度,积分时间,滤波系数等
我不知道大家是怎么选择的,是通过实验去摸索确定,还是按照仪器默认的或者厂家
2011年07月22日发布人:yalefield
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本人最近学习精修,发现自己的精修结果里键参数(键长,键角)的不确定度较大,查阅相关文献发现凡是利用XRD精修的,不确定度有大有小(参见红色框内),不知怎样将其数值变小,以便增加精修精确度?虚心向各位学习!谢谢!,跟你 精修得到的 chi
2015年05月12日发布人:灵魂