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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数,各向异性
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成铁电薄膜PbZr1-xTixO3&BA1-xSrxTiO3的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的厚度
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪的标准应用
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜,适用于Al含量,膜厚度项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量线偏振光经过薄膜样品反射后偏振状态发生的改变,通过模型拟合后得到薄膜、界面和表面粗糙层的厚度以及光学性质等等,可测厚度范围为几埃至几十
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HORIBA UVISEL Plus研究级经典型椭偏仪
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UVISEL 椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他生命科学
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成流动液体池环境中的生物芯片的检测。可以用在其他生命科学行业领域中的生物芯片结构项目。 技术参数: * 光谱范围
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 椭偏仪 应用于其他生命科学
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成生物素的检测。可以用在微生物行业领域中的生物膜厚度,界面反应项目。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术,基于测量
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UVISEL 堀场HORIBA椭偏仪 可检测ZnO薄膜
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 用于测定ZnO薄膜,符合行业标准0。适用光学常数项目。 技术参数: * 光谱范围: 190-885 nm(可扩展至2100nm
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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 适用于厚度,光学常数,掺杂的影响
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定OLED-有机发光二极管,适用于厚度,光学常数,掺杂的影响项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域
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UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 表征玻璃基底上的ZrO2薄膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZrO2薄膜的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的膜厚度,光学常数,组成项目。 仪器简介
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HORIBA Smart SE智能型多功能椭偏仪
技术参数:· 光谱范围:450-1000nm· 多种微光斑自动选择· zl光斑可视技术,可观测任何样品表面· CCD探测器· 自动样品台尺寸:200mmX200mm;XYZ方向· 自动调节; Z
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