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UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 表征玻璃基底上的ZrO2薄膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成ZrO2薄膜的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的膜厚度,光学常数,组成项目。 仪器简介
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堀场HORIBA椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 应用于其他生命科学
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在其他生命科学行业领域,用来检测溶液,可完成疏水改性多聚糖在气水界面的聚集项目。符合多项行业标准0。 技术参数: * 光谱范围
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椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 可检测TFT-LCD显示屏
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 参考多项行业标准0。完成TFT-LCD显示屏的检测。可以用在电子/半导体行业领域中的膜厚度,光学性能,掺杂的影响,各向异性层项目。 仪器简介: 椭圆偏振
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椭偏仪堀场HORIBAUVISEL 可检测AIN
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定AIN,适用于光学特性项目。并且参考多项行业标准0。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数
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HORIBA.AutoSE.全自动快速椭偏仪
一键式全自动快速椭偏仪 Auto SE——新型的全自动薄膜测量分析工具。采用工业化设计,操作简单,可在几秒钟内完成全自动测量和分析,并输出分析报告。是用于快速薄膜测量和器件质量控制理想的解决方案。
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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA PDP等离子体显示屏
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 适用于厚度,光学常数项目,参考多项行业标准0。可以检测PDP等离子体显示屏等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 技术参数: * 光谱范围
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪堀场HORIBA 适用于膜厚度,光学常数,组成
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 适用于膜厚度,光学常数,组成项目,参考多项行业标准0。可以检测ZrO2薄膜等样品。可应用于电子/半导体行业领域。 仪器简介
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堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 适用于厚度,光学常数,各向异性
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 用于测定介孔硅复合材料,符合行业标准0。适用厚度,光学常数,各向异性项目。 技术参数: * 光谱范围
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪堀场HORIBA椭偏仪 应用于细胞生物学
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在分子生物学行业领域,用来检测生物素,可完成生物膜厚度,界面反应项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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椭偏仪堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 椭圆偏振光谱仪研究ZnO薄膜
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定ZnO薄膜,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于涂料行业领域。 技术参数: * 光谱
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