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Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅
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R-015-050-300带电粒子探测器
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅探测器
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U-013-025-300带电粒子探测器
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅
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D-035-050-25带电粒子探测器
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷的厚硅
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D-015-050-50带电粒子探测器
Beta能谱测量的难处在于常温状态下由硅探测器很难获得良好的分辨率。ORTEC提供以下两种解决方案:1,Beta-X Si(Li)一体化探测器(包含探头,冷指前放);2,A和L系列可制冷
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