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X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
X-Strata和MAXXI系列产品 ,可以测量小的试片或连续带状样品,从而达到 引线框架(引线框架)、连接器插针、线材和端子的上、中和预镀层厚度的控制。IC 载板半导体器件越来越小巧而复杂,需要分析
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E8-SPR 镀层测厚仪器、RoHS检测
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菲希尔XDLM系列 X射线荧光镀层测厚仪
FISCHERSCOPE X-RAY XDLM 系列是应用广泛的能量色散型X射线镀层测厚及材料分析仪。这款仪器专门是为测量超薄镀层和微含量而设计,是用于质量控制,质量检验和生产监控的zei合适
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Spark Mistral 柱温箱
流速,可使用更窄的色谱柱或更小的颗粒作为填料。 只有当温度稳定精确,分析结果才会更加准确。 这正是我们设计MISTRAL™时的灵感,出色的温度控制和集成的溶剂预热器为您提供精确的温度控制。带强制空气
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台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - 五金电镀
组件或复杂配件,都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。我们的镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析,可分析
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菲希尔XDV-SDD X射线荧光镀层测厚仪
界面友好的WinFTM®软件在电脑上完成。 X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,配有可编程运行的 X/Y 轴工作台和 Z 轴升降台,用于自动测量超薄镀层厚度或进行痕量分析。 FISCHERSCOPE
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菲希尔XDV-u X射线荧光镀层测厚仪
X 射线荧光镀层测厚及材料分析仪,独有多毛细孔X 射线光学系统设计,可自动测量和分析微小部件及结构上镀层厚度和成分。FISCHERSCOPE®-X-RAY XDV-μ®是一款应用广泛的能量色散
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DELTASCOPE MP10E便携式涂镀层测厚仪
技术参数:根据磁感应方法(DIN EN ISO 2178),采用微处理器控制的便携式涂镀层测厚仪。电源供电采用电池或可充式电池。插头式连接器可连接多达30种不同的探头。用于测量数据和文字显示的
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XRF痕量元素分析及镀层测厚仪 (X-Strata980)
X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保极佳的信/躁比,从而降低检测下限。探测器
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菲希尔XDLM-PCB系列 X射线荧光镀层测厚仪
精力。依靠FISCHER所采用的的完全基本参数法,可以在没有标准片校正的情况下分析固、液态样品及测量样品的镀层厚度。 FISCHERSCOPE X-RAY XDLM-PCB 220 是专为测量印制电路
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