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Veeco Nanoscope Ⅲa 扫描探针显微镜
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扫描探针式TEM力电学系统
规格参数:透射电子显微镜指标保证透射电镜原有的分辨率(非球差校正)。 扫描探针操纵指标粗调范围:XY方向2.5mm,Z方向1.5mm。细调范围:XY方向20um,Z方向2.0um。细调分辨率
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SPECS变温扫描探针显微镜
SPM Aarhus 150极其稳定且用途广泛的SPM Aarhus 150 SPECS,适用于最终的扫描探针显微镜应用SPM Aarhus 150是一款非常稳定且省时的仪器。专门设计的3千克
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扫描探针显微镜控制器
低压输入通道,放大倍数为15倍。扫描探针显微镜控制器技术参数:可以实现扫描探针显微镜针尖的自动逼近、样品扫描、数据收集等功能,低信噪比,具备原子分辨率。扫描探针显微镜控制器可以实现扫描探针显微镜针尖的
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5100 扫描探针/原子力显微镜
• 适用于多用户研究系统,轻松实现原子级分辨 • 杰出的环境控制和变温控制 • 超高的性价比,模块化的设计,保证了通畅的升级渠道 • 开放式的扫描主体设计,允许接入光路
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5600LS 扫描探针显微镜
安捷伦5600LS AFM是独一无二的、高精度、大样品台原子力显微镜。 安捷伦5600LS AFM是独一无二的、高精度、大样品台原子力显微镜。它也可与STM扫描器配合使用
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SPM-9700扫描探针显微镜
可获得更高分辨率更高质量的观察图像 扫描探针显微镜(SPM)是在样品表面用微小的探针进行扫描,通过高倍率观察三维形貌和局部物理特性的显微镜总称。SPM-9700更是性能高、速度快、操作
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
制系统采用10M/100M快速以太网(Fast Ethernet 10/100)与计算机连接 ■ 全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制 ■ 基于
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扫描探针显微镜(SPM/AFM/STM)
进样,无需手工粗调 ● 只需要更换探针架,即可在STM和AFM等不同类型仪器中切换 ● 全数字控制,系统状态、仪器类型、扫描器和探针架参数智能识别和控制 ● 探头
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CSPM5500扫描探针显微镜
技术参数: (1)国际主流的研究级专业仪器,集成原子力显微镜(AFM),横向力显微镜(LFM),扫描隧道显微镜(STM) (2)分辨率: 原子力显微镜
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