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Nicomp 380 Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
(步长0.9°)检测分析液态纳米颗粒系的粒度及粒度分布,又可以小角度测量Zeta电位。粒度测试范围:0.3 nm – 10 µm。 NICOMP 380 Z3000纳米粒径与电位分析仪通过检测分析
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Nicomp 380 DLS 纳米粒径检测仪
Nicomp多峰算法结合模块化设计可同机搭载ZETA电位检测模块,还可增加自动稀释和自动滴定等辅助测试模块功能全面使用简捷 专为复杂体系提供高精度粒度解析方案 NICOMP呈现的不仅仅是传统
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激光粒度电位检测仪
激光粒度电位检测仪 仪器参数: 粒径测量范围粒度分析:0.3 nm - 10 μm分析方法粒度分析:动态光散射,Gaussian 单峰算法和 NiComp 无约束自由拟合多峰算法pH值范围2
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780 APS 乳剂检测仪
仪器参数:粒径测量范围(可选)0.5 – 400 μm1.0 – 400 μm分析方法单颗粒激光测量技术(SPOSPAT)进样量(可选)0.5 mL, 1 mL, 2 mL 5 mL 可用溶剂
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AccuSizer 780 APS 全自动计数粒度仪
粒径测量范围(可选)0.5 – 400μm2.0 – 1000μm25.0 – 2500μm50.0-5000μm干法或湿法湿法分析方法单颗粒激光测量技术(SPOS)进样量(可选)0.5 mL
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AccuSizer 780 SIS 注射型不溶性微粒度仪
强有力工具。AccuSizer 780SIS注射型不溶性微粒检测仪 AccuSizer 780SIS系列仪器是美国PSS粒度仪公司专为对定量样品作精确的粒径分析设计的一款产品,其
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Nicomp Z3000 纳米粒径与Zeta电位分析仪
干扰和数据上的误差,精确分析出样品Zeta电位的趋势。 激光粒度仪应用领域:适用于检测悬浮在水相和有机相的颗粒物。 1)磨料 磨料既有天然的也有合成的,用于研磨、切削、钻孔、成形以及抛光
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Nicomp 380 N3000 纳米激光粒度仪
15 mW的半导体激光光源,PMT探测器,以及固定90度检测角。进样方式为嵌入式样品池。Nicomp 380纳米粒径分析仪是全球唯一在应用动态光散射技术上的基础上加入多模块方法的先进粒度仪。随着模块的
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780 SIS 不溶性微粒检测
仪器参数:粒径测量范围(可选)0.5 – 400 μm1.0 – 400μm3.0 – 1000μm5.0- 2500μm分析方法单颗粒激光测量技术(SPOSPAT)可用溶剂水和绝大多数
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美国PSS AccuSizer 780 高浓度颗粒计数器
动态光散射技术相结合的技术对高浓度样品进行检测粒径分布的同时进行计数的颗粒计数仪。FX系列zei小可以测试计数到150nm,可检测浓度高1×E11个/mL的样品。可以满足蛋白质聚集和高浓度slurry
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