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Helios Hydra 双光束FIB-SEM
全新的Helios Hydra双光束系统,研究人员现在可以在一个聚焦离子束扫描电子显微镜(FIB-SEM)中使用氩、氮、氧和氙四种不同的离子束流。在不牺牲性能的前提下,使用者可在十分钟内快速、轻松地
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赛默飞Prisma E SEM扫描电子显微镜
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Scios DualBeam 电子显微镜
高级检测技术是 FEI Scios 的核心技术。透镜内 FEI Trinity™ 检测技术能够同时收集所有信号,既节省了时间还能形成鲜明的对比度,从而有助于采集尽可能多的数据。创新的透镜下同
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赛默飞Metrios AX TEM半导体计量透射电镜
Technical highlightsSource• Ultra-stable, high-brightness Schottky field emission gun (X-FEG
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赛默飞 Talos F200C TEM透射电子显微镜
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Titan Themis TEM透射电镜
研究领域广泛使用的 CPython 编程语言配合使用,从而更轻松、更可靠地开展数据挖掘。透射电子显微镜Titan Themis 材料科学应用快速、准确且量化的多维材料表征FEI 的像差校正 Titan
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赛默飞(原FEI)Volumescope 2 扫描电镜
Volumescope 2 3D SEM的性能数据电子光学系统高分辨率场发射 扫描电镜镜筒高稳定性肖特基场发射枪复合末端透镜:静电、无漏磁、浸没式磁透镜复合透镜兼具电磁透镜和静电透镜的双物镜
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FEI Quanta 3D 200i SEM/FIB
SEM:分辨率:3.5nm at 30kV高真空模式、ESEM环境真空模式 SEM:加速电压200V-30kV FIB:分辨率 7nm at 30kV; FIB:加速电压 2-30kV
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FEI Inspect S50 扫描电子显微镜
电子枪:高亮度、方便维护的钨灯丝电子枪分辨率: 二次电子: 高真空模式 3.0nm at 30kV; 8nm at3kV 高真空减速模式 7nm at 3kV (可选项) 低真空
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Helios 5 Hydra DualBeam等离子聚焦离子束扫描电子显微镜
性能数据Helios 5 Hydra CX DualBeamHelios 5 Hydra UX DualBeam电子束分辨率在最佳 WD:1 kV 时 0.7 nm500 V (ICD) 时
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