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Waters 科学信息系统沃特世仪器工作站及软件 采用UNIFI和UPLC-ToF-MSE 表征杀菌剂粉唑醇中的杂质
沃特世Waters 科学信息系统UNIFI参考多项行业标准。完成杀菌剂粉唑醇的检测。可以用在其他制药/化妆品行业领域中的杂质项目。 充分满足您的发展需求UNIFI软件可部署在工作站式系统解决方案中
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CrossLab 多厂商法规认证服务安捷伦 样本
点击查看下载CrossLab 多厂商法规认证服务安捷伦 样本相关资料,进一步了解产品。 安捷伦充分利用为某些通用实验室计算机化系统提供的丰富经验和启始工具包。这些文档使安捷伦能够缩短整体 CSV
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系列 ICP-OESiCAP 7000 Plus赛默飞 采用 Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS 分析药物产品中杂质元素
赛默飞ICP-AESiCAP 7000 Plus参考多项行业标准《美国药典》。完成药物产品的检测。可以用在药物代谢行业领域中的 Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS 分析
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iCAP Q ICP-MSICP-MS赛默飞 采用 Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS 分析药物产品中杂质元素
赛默飞 iCAP Q ICP-MS适用于 Thermo Scientific iCAP RQ ICP-MS 分析药物产品中杂质元素项目,参考多项行业标准《美国药典》。可以检测药物产品等样品。可应用
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系统Q Exactive Plus LCMS液质 Q Exactive高分辨质谱检测分析药物中6种亚硝胺类基因毒性杂质
赛默飞液质Q Exactive Plus LCMS用于测定亚硝胺,氯沙坦,符合行业标准FDA FY19-107-DPA-S_ Liquid Chromatography-High
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iCAP 7600ICP-AES ICP-OES等离子体光谱仪 适用于分析药物产品中杂质元素
赛默飞 ICP-OES等离子体光谱仪 iCAP 7600用于测定药物产品,符合行业标准1. Multi-element Determination in Pharmaceutical
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赛默飞CL2GAS000001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: CL2GAS000001旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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赛默飞H2PGA0202011 用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析纯气体中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: H2PGA0202011旨在极大限度地提高生产率和运行时间双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的等温阀烘箱至多可容纳 6 个
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Multiwave GO Plus微波消解系统微波消解 可检测元素杂质Os
安东帕微波消解系统Multiwave GO Plus用于测定元素杂质Os,符合行业标准ASTM D4309。适用元素杂质Os项目。 使用Multiwave 7000可以促进在完全符合GMP要求的
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ICP-OES液质iCAP PRO系列 适用于杂质元素
赛默飞ICP-OESiCAP PRO系列适用于杂质元素项目,参考多项行业标准暂无。可以检测六氟磷酸锂电解液等样品。可应用于电池/锂电池行业领域。 随着新能源产业的不断发展,锂离子电池及其
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