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手机电路板表面影像仪
镜头 0.7~4.5X卡位镜头电脑品牌电脑CCD美国“TEO”1/2英寸43万像素彩色摄像头放大倍率24~156X(可扩展12~312X)表面灯源8区程控光源轮廓底光无极连续可调LED光源量测精度
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高性能橡胶专用比表面仪JWGB-BK200C型
性能参数:仪器型号:JW-BK200C 微孔bet比表面积分析仪原理方法:静态容量法,低温氮吸附;测试功能:等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面
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基础型磷酸锂比表面测试仪 JWGB-BK222
基础型磷酸锂比表面测试仪 JW-BK222双站全自动比表面积测试仪,是继BK112之后的又一款经典型、实用型、高效型物理吸附仪,双站并列独立运行。仪器重要硬件全部采用一线品牌,产品综合性
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高通量钴酸锂比表面测定仪BK400
性能参数:仪器型号: JW-BK400 比表面积测试仪原理方法: 气体吸附法,静态容量法;测试功能: 单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;t-plot法外表面积测定;单点吸附总孔体积
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精微高博基础型陶粒比表面分析仪BK基础型
得到,后者由于Tc是非均匀的,因此不能实际测量得到,但可以通过实验测得。如果样品管中的压力达到了最高值, 即样品表面吸附的氮量达到了最大饱和度, 则 vd 空间中的压力将逐步降低到 Pd。平衡压力值
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高精密陶粒比表面分析仪JW-BK300系列
技术参数:仪器型号: JW-BK300 高精密三站并列式全自动介孔微孔分析仪原理方法: 静态容量法,低温氮吸附;测试功能: 等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir
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高端比表面及介孔分析仪JW-BK400A
比表面积测试仪性能参数:仪器型号: JW-BK400 比表面积测试仪原理方法: 气体吸附法,静态容量法;测试功能: 单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;t-plot法外表面
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SCI-BK132F型比表面及孔径分析仪
技术参数测试精度:比表面重复精度≤± 1.0%;超微孔最可几孔径重复偏差≤0.01nm;测试气体:高纯氮气(99.999%),或其它气体(如Ar、Kr、CH4、CO2等);配有四个进气口*测试
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BK基础型 精微高博基础型陶粒比表面分析仪
和温度相关;前者可以实际测量得到,后者由于Tc是非均匀的,因此不能实际测量得到,但可以通过实验测得。如果样品管中的压力达到了最高值, 即样品表面吸附的氮量达到了最大饱和度, 则 vd 空间中的压力将
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SCI-BK112全自动比表面及孔径分析仪
性能参数原理方法:气体吸附法,静态容量法;测试功能:等温吸脱附曲线;单点、多点BET比表面积;Langmuir比表面积;外表面积(STSA);单点吸附总孔体积、平均孔径;BJH介孔大孔孔容积及
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