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Park原子力显微镜AFM及扫描探针Park NX-Wafer 应用于高分子材料
低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆制造厂检查和分析、裸晶圆和衬底的自动缺陷检测以及CMP轮廓测量。Park
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Park NX-WaferAFM及扫描探针Park原子力显微镜 应用于航空/航天
低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆制造厂检查和分析、裸晶圆和衬底的自动缺陷检测以及CMP轮廓测量。Park
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AFM及扫描探针Park原子力显微镜Park NX-Wafer 应用于电池/锂电池
• 设备前端模块(EFEM)用于自动晶圆传送 • 洁净室兼容性和远程控制接口 • 沟槽宽度、深度和角度测量的自动数据采集和分析 Park NX-Wafer的特征长范围轮廓仪长范围轮廓仪是原子力轮廓仪
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AFM及扫描探针Park NX-WaferPark原子力显微镜 可检测半导体
分类。 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆
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Park原子力显微镜Park NX-WaferAFM及扫描探针 应用于电子/半导体
数据采集和分析 Park NX-Wafer的特征长范围轮廓仪长范围轮廓仪是原子力轮廓仪(AFP)的重要组成部分,并且具有用于自动CMP轮廓扫描和分析的专用用户界面。• 200mm : 10 mm
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帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-WaferAFM及扫描探针 应用于纳米材料
表面粗糙度测量 晶圆厂唯一具有自动缺陷检测的原子力显微镜用于高吞吐量CMP轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能
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帕克 NX-Wafer 原子力显微镜Park NX-WaferAFM及扫描探针 AFM干货分享:原子力探针显微术基础及其研究进展
以获得准确的扫描避免繁琐的工作NX-Wafer配备了自动化软件,使操作几乎不费吹灰之力只要选择所需的测量程序,就可获得精确的多点分析悬臂调整,扫描速率,增益和设定点参数的优化设置。Park的用户友好的
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Park NX-WaferPark原子力显微镜帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于微生物
轮廓测量的高精确低噪声原子力轮廓仪Park NX-Wafer是业界领先的半导体及相关制造业自动化AFM计量系统。该系统能提供晶圆制造厂检查和分析、裸晶圆和衬底的自动缺陷检测以及CMP轮廓测量
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Park NX-WaferAFM及扫描探针帕克 NX-Wafer 原子力显微镜 应用于纳米材料
• 自动换针 • 设备前端模块(EFEM)用于自动晶圆传送 • 洁净室兼容性和远程控制接口 • 沟槽宽度、深度和角度测量的自动数据采集和分析 Park NX-Wafer的特征长范围轮廓仪长范围轮廓仪是
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Park原子力显微镜扫描探针显微镜进口帕克原子力显微镜
Park NX-Wafer 低噪声原子力轮廓仪,用于更精确的CMP轮廓测量亚埃级表面粗糙度测量具有极高的精度和极长的探针使用寿命用于缺陷成像和分析的全自动AFM解决方案全自动系统,包括自动探针更换
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