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NovaSeq X 和NovaSeq X Plus测序系统
高通量测序的新标准NovaSeq X系统和NovaSeq X Plus系统将测序输出、样本通量和技术参数再次提升了一个档次。不同读长下†每个流动槽的输出*NovaSeq X系列流动槽类型
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X.com 21x -Ex防爆手机
& EDGE通话时间zui大16 小时待机时间zui大. 1400 小时显示LCD 显示65,536 色(分辨率: 176 x 220 px)使用环境范围-20 °C … +55 °C充电时间约. 4
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SITE-X320X射线探伤机
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X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪
是小、大或长样本的理想选择。优化的硬件配置可以直接分析化学镀镍应用中的%P。X-Strata920 可被配置为三个不同的样品台配置,以应对各种不同的样本形状和尺寸。标准台可以快速定位小或薄部件。加深
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HRM-45型手动表面洛氏硬度计
Hardness testing instrument. Usage Range: Surface hardened steel, copper, aluminum alloy sheet
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ORTEC核电子学插件、NIM机箱、放大器
and Counter (requires interface option for computer operation)99X-1994, 995, and 996 Options
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OREC核电子学插件,NIM机箱电源
)996CCNIM Timer and Counter (requires interface option for computer operation)99X-1994, 995, and 996
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0RTEC核电子学NIM插件4001A/4002D
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X射线相机
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U-SMPS 2050 X / 2100 X /2200 X 通用扫描迁移率粒度仪
集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪 适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用集成X射线电离功能的通用扫描迁移率粒度仪适用于8 ‒ 1200 nm的各种应用 图1:U-SMPS 2050X
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