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MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统
MidiLab9000-CSI 电子级试剂金属杂质含量在线分析系统是一款用于半导体厂务及FAB产线中电子级湿化学品金属杂质含量的在线监测系统,提供电子级湿化学品“采样-传输-稀释-标曲-内标-进样
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普析 XD6/7系列衍射仪
X射线光源的数字控制XD6型多晶X射线衍射仪用于晶体物质结构定性定量分析。该产品在XD3基础上设计,测角仪扫描半径连续可调。
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Cytation7 细胞成像多功能检测系统
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安捷伦 涡旋式干泵 IDP-7
Agilent IDP-7 是一款静音、紧凑、无油、高性能的隔离型涡旋式干泵,适用于研究、分析仪器和实验室市场中的多种应用。非常适合需要更高抽速或水蒸气耐受能力的紧凑型台式泵的情形。IDP
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高端陶瓷磁力热板4\" SUPER NUOVA SP 230V 7X7 CER
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Super-Nuova 系列数字型搅拌器、加热板和加热搅拌器提供极为专业的性能和简单的操作型。两种大小不同的产品型号,其中包含一款可以四位点独立搅拌的加热搅拌器 ● 微处理控制器可以稳定地
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赛默飞TIGAHE010013用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAHE010013旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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赛默飞 PGA000010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGA000010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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赛默飞TIGAOX010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: TIGAOX010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱宽敞的独立阀烘箱,易于接近阀门
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赛默飞COCO20010011用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: COCO20010011旨在极大限度地提高生产率和运行时间用于分子筛柱的可选第三个等温烘箱具有即时连接探测器模块,可在几分钟内
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赛默飞PGACOCO2001用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪 分析低浓度 CO/CO2中的痕量杂质
用于永久性气体和痕量杂质的 TRACE™ 1310 GC 分析仪货号: PGACOCO2001旨在极大限度地提高生产率和运行时间加热样品隔板确保样品完全转移双烘箱设计:程控升温 GC 烘箱和独立的
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