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椭偏仪UVISEL HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪 硫系玻璃的表征
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在其他化工行业领域,用来检测硫系玻璃,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 技术参数
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椭偏仪HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可检测光伏器件
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可以用在多个行业领域,用来检测光伏器件,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损
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堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪 应用于涂料
堀场HORIBAHORIBA Plus研究级经典型椭偏仪UVISEL 可用于测定玻璃和预蒸镀基底,适用于光学常数项目。并且参考多项行业标准0。可应用于其他化工行业领域。 仪器简介: 椭圆偏振
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德国Sentch 光谱椭偏仪SENpro
SENpro椭偏仪是椭偏仪应用的智能解决方案。它具有角度计,入射角度步进值5°。操作简单,快速测量和直观的数据分析相结合,以低成本效益高的设计来测量单层和多层膜的厚度和光学常数。
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椭偏仪SE200AA
折射率等参数 · 系统配备大量的光学常数数据及数据库 · 对于每个被测薄膜样品,用户可以利用先进的TFProbe3.0软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型(EMA)测量
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椭偏仪SE200AM
折射率等参数 · 系统配备大量的光学常数数据及数据库 · 对于每个被测薄膜样品,用户可以利用先进的TFProbe3.0软件功能选择使用NK数据库、也可以进行色散或者复合模型(EMA)测量
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椭偏仪 SE200BM
) · 加热/致冷平台 · 样品垂直安装角度计 · 波长可扩展到远DUV或IR范围 · 扫描单色仪的配置 · 联合MSP的数字成像功能,可用于对样品的图像进行测量 应用
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德国Sentech范光谱椭偏仪
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光谱型椭偏仪 SE型
) 技术参数: -尺寸常数: 厚度, n(λ) 和 k(λ) -厚度范围 1 Å ~ 10 µm (根据膜片种类而定) -层数 10层以上 -波长 380 ~ 1000 nm
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HORIBA Plus研究级经典型椭偏仪椭偏仪UVISEL 可检测非晶碳薄膜
堀场HORIBA椭偏仪UVISEL 可以用在其他生命科学行业领域,用来检测非晶碳薄膜,可完成厚度,光学常数项目。符合多项行业标准0。 仪器简介: 椭圆偏振光谱是一种无损无接触的光学测量技术
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