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AZtecFeature扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — 可检测Semiconductor
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SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature扫描电镜 可检测Polymer
)中的能谱分析(EDS),专用于钢铁夹杂物的分析和分类,使SEM中的钢铁夹杂物分析变得更有效、更准确。它检测、测量并分析夹杂物,将数据结果按照公布的标准方法进行处理,并包含绘制复杂三元相图的功能。3.
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扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature 可检测Pollutant
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature可用于测定Pollutant Particles,适用于Pollutant Particles项目。并且参考多项行业标准Oxford
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扫描电镜SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature 可检测Materials
牛津仪器SEM专用颗粒物分析系统 — AZtecFeature参考多项行业标准Oxford Instruments。完成Polymer Materials的检测。可以用在纳米材料行业领域中的
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OLS41003D测量激光显微镜
(SEM)在观察之前需要进行前期的样品准备,如真空脱水和/或切片处理,使之适合样品室。而LSM则无需前期的样品准备即可对样品进行测量。而且,将样品放置在载物台上之后,即可直接开始成像。 卓越的
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TMC SEM隔音罩
Features- 1.正门36“宽,允许完全访问SEM的正面。24”的模型也包括前面的门 2.顶部包括易开的、节省空间的舱口门方便进入SEM。凸轮锁确保紧密密封。 3.所有的门都带有容易打开的门闩
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SEM液态样品套件
SEM液态样品套件SP-102-24 WETSEM技术是基于一个应用于标准SEM样品台的专利样品舱。该舱体的中心为一层透明的纳米技术薄膜
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SEM纳米探针台
实现了三维空间上的准确定位, 它具有分辨率高,尺寸紧凑,行程大,操作简单,能在真空下使用等优点,可应于SEM真空腔体内完成各种纳米精度运动操作。
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扫描电镜(SEM)
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德国徕卡 临界点干燥仪 EM CPD300
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