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透射电镜(原FEI) Verios XHR SEM 应用于地矿/有色金属
点击查看下载透射电镜(原FEI) Verios XHR SEM 应用于地矿/有色金属相关资料,进一步了解产品。 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本,从而无法在细胞研究中观测
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(原FEI) Verios XHR SEM透射电镜 电子显微镜产品目录
点击查看下载(原FEI) Verios XHR SEM透射电镜 电子显微镜产品目录相关资料,进一步了解产品。 赛默飞电子显微镜产品目录 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本
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Verios XHR SEM透射电镜赛默飞 样本
生物样本的剂量静电扫描 - 最大限度减少图像失真,并改善成像速度,从而进一步提高工作效率和质量Verios 的电子工业应用Verios XHR SEM 推出了全新的检测器硬件,将 SEM 的观测能力
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Verios XHR SEM透射电镜(原FEI) 应用于其他化工
分辨率以及增强的对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学应用 观测敏感的生物样本时
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透射电镜赛默飞(原FEI) 应用于其它环境/能源
对比度,满足材料精密测量所需,同时又不会削弱传统扫描电子显微镜 (SEM) 所具有的高吞吐量、分析能力、样本灵活性和易用性等优势。Verios 的生命科学应用 观测敏感的生物样本时,过高的成像电压
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透射电镜(原FEI) 赛默飞 其他资料
时,过高的成像电压带来的电子束会损伤样本,从而无法在细胞研究中观测关键细节。Verios XHR 扫描电子显微镜 (SEM) 最低可在 1kV 的电子束电压下工作,因而能最大限度减少样本干扰,同时又不
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牛津仪器TKD样品座 置于SEM中
TKD样品座是专为超薄样品设计,易于固定且符合光学原理。置于SEM中,即可使用AZtec EBSD系统轻松方便的实现高分辨的EBSD分析。专为TKD分析的样品座,TKD即透射菊池花样演示分析
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ADCON SM1土壤温湿度传感器 地质观测
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路赋德 CHM 8K云高仪 气象观测
,易维护的模块化设计l 全天候的稳定运行l CHM 8k云雾霾激光雷达可以全年全天候不间断地运行。设备配备了双层机壳,观测窗吹风机,自动加热系统,可以不受雾、雨、冰冻和过热的影响。技术参数:CHM
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荧光观测器
荧光观测器用于检测、筛选转绿色荧光蛋白(GFP)和红色荧光蛋白(DsRed)基因的植物、动物及微生物,如染荧光的各种动植物 水稻、玉米、斑马鱼、小鼠、细菌、真菌等进行荧光观测,方便可靠。荧光观测
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