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Thermo Scientific 安检X光机
来源:赛默飞测量控制和样品识别 相关产品:EPD-G 电子个人γ剂量计 资料
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ContourGT-X-Datasheet-英文彩页
ContourGT-X 三维 光学 显微镜 ContourGT-X 3D Optical Microscope Automated, Gage-Capable Metrology for R&D
来源:布鲁克电子显微纳米分析仪器部 相关产品:ContourGT-X 三维光学显微镜 资料
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磷酸的分析-ARL QUANT`X高性能X射线荧光能谱仪
轻元素的灵敏度受一定限制,很少用测定浓度低于1%的钠或镁。但现在其技术上的发展,已使其应用的范围扩展到传统上是使用更加灵敏和大型的X—荧光波谱(WDXRF)的领域了。
来源:matrix 资料
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高阶台式 X 射线衍射仪(XRD)
来源:赛默飞元素分析仪器 应用
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空气颗粒物(PM)滤膜检测--- X射线驻波(XSW)及全反射X射线荧光(TXRF)法
来源:利曼中国 相关产品:TX 2000 全反射X荧光光谱仪 应用
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波长色散X荧光分析仪的应用
来源:Bruce.W 资料
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中厚_磁泡薄膜多元组份原子比的X荧光光谱非破坏测定
来源:F20090330 资料
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X射线荧光基础知识概述
本文介绍了X射线的发展历史并阐述了X射线荧光光谱法理论基础,讲述了X射线从光管出射到晶体衍射再到入射样品产生荧光并被探测器接收的整个过程的理论,可以让用户更深入理解XRF的原理和应用。
来源:北京安科慧生科技有限公司 相关产品:水泥全元素X荧光光谱仪Merak-CEM 资料
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X荧光分析系列实验
来源:uytdo 资料
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X射线荧光仪器分析误差的来源
至关重要的因素,在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面: 1. 采样误差: 非均质材料 样品的代表性 2. 样品的制备: 制样技术的
来源:uytdo 资料
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