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布鲁克 timsTOF HT捕集离子淌度质谱
连续分析数千个样品,仪器保持稳定的性能而无需清洁。灵敏度: 第四代 TIMS-XR 的超大离子容量极大提升了分析深度。选择性: 在四极杆和飞行管之前提供额外一维淌度分离,大大提升了峰容量。捕集型离子淌
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布鲁克timsTOF Pro 2 捕集离子淌度质谱
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于医学
全新 M6— — 飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)先进科技 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代高端飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)仪器
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于材料化学
TOF-SIMS是非常灵敏的表面分析手段。其凭借质谱分析、二维成像分析、深度元素分析等功能,广泛应用于医学、细胞学、地质矿物学、微电子、材料化学、纳米科学、生命科学等领域。Hybrid
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于微电子
飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS),也叫静态二次离子质谱,是飞行时间和二次离子质谱结合的一种新的表面分析技术。TOF-SIMS具有高分辨、高灵敏度、精确质量测定等性能,是目前高技术领域广泛使用
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Sciex解析质谱谱图数据的 PeakView™软件
处理精确的质谱数据、结构解析和批量分析的PeakView™软件 显示谱峰之间的质量差异生成扣除背景的谱图,合并相关谱图或创建轮廓图
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TG-hiden MS 热重-质谱联用技术
谱系统: Hiden公司以在高性能质谱和SIMS制造方面闻名。PerkinElmer与其合作可为不同的实验室需求提供更为多样的解决方案。可提供200,300和500 amu的系统质量范围可于售后
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于细胞学
应用研究的人员对于这种功能尤其感兴趣。近年来,在亚细胞水平上成像和准确识别分子的愿景一直在推动仪器及其应用的发展。虽然新的离子源扩展了SIMS仪器在生物学方面的应用,但深入研究这类材料需要SIMS
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二次离子质谱IONTOFTOF-SIMS M6 Hybrid SIMS 应用于纳米材料
点击查看下载二次离子质谱IONTOFTOF-SIMS M6 Hybrid SIMS 应用于纳米材料相关资料,进一步了解产品。 M6 是 IONTOF 在 TOFSIMS 5 基础上开发的新一代
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IONTOF飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)全新 M6应用于地质矿物学
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