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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)
J200飞秒激光剥蚀进样系统将飞秒激光源技术可靠性提升到一个新高度,系统采用了一种自动调高传感器,该传感器的设计考虑到了样品表面的形态变化。
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J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)
J200飞秒激光剥蚀进样系统(LA)的技术研发均为美国劳伦斯伯克利国家实验室的科研人员,研发的理念就是使元素化学分析简单快速化,测量结果精确化,分析过程绿色化,设备采用了一种自动调高传感器,该传感器
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J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)
J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)具有简单直观的图形界面,专有的化学计量软件利用一组高度复杂的统计算法为我们的LIBS仪器增加了材料鉴别能力,非常适合实验室分析和生产监控应用,该仪器能够监测具有
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J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)
J200激光诱导击穿光谱仪(LIBS)专为处理痕量元素分析而设计-那些需要高灵敏度和准确性的分析,该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素
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全新COD 单参数分析仪
技术参数:Spectroquant® Picco单参数比色计 标准配置: 主机、便携箱、16mm圆形比色管适配器及盖子、9V电池、3个24mm圆形比色管(适用于Picco PH/O3/Cl2)或3个
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安捷伦 8700 LDIR 激光红外成像系统微塑料分析 量子级联激光器
研究微塑料等新兴污染物需要创新的分析技术。Agilent 8700 LDIR 激光红外成像系统采用量子级联激光器光谱技术,具有出众的分析速度和易用性以应对此类分析挑战。8700 LDIR
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晟鼎 激光干涉仪 SDI-635-25PV
名 称:激光干涉仪型 号:SDI-635-25PV品 牌:晟鼎 随着光通讯行业的飞速发展,特别是通讯行业手机、平板等对成像质量要求的不断提高,必须对手机面板摄像孔的光学玻璃的透射波前
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三维光学轮廓仪(激光干涉仪)
仪器简介:广范围用于表面粗糙度、三维形貌、微观结构精密测量和分析;技术参数:RMS可重复性(标准模式):1nm 外侧面采样:0.11到8.8μm RMS可重复性(精度
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二氧化碳激光器: InfraLight 200
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NOVA60(A)多参数水质分析仪
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