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iCAP PROICP-AES赛默飞 可检测用含钛基体金红 石
赛默飞iCAP PROICP-OES可用于测定用含钛基体金红 石、四氯化钛、TC4,适用于ICP-OES方法项目。并且参考多项行业标准SN/T 4758-2017 、YS/T 655-2016、GB
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HACH哈希DR300硝酸根检测仪 硝酸盐检测仪 硝酸盐浓度仪
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DR300硝酸盐HACHDR300硝酸根检测仪 硝酸盐检测仪 硝酸盐浓度仪离子检测仪 样本
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L六灯座单火焰原子吸收光谱仪原子吸收AA-1800C 可检测工业硝酸钾和硝酸镁中
美析L六灯座单火焰原子吸收光谱仪AA-1800C用于测定工业硝酸钾和硝酸镁中,符合行业标准。适用测定工业硝酸钾和硝酸镁中金属杂质含量项目。 AA-1800型原子吸收光谱仪元素测试灵敏度达到国际最佳
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哈希DR300铁离子DR300便携式铁测定仪(TPTZ法) 铁离子检测仪 铁离子比色计 样本
点击查看下载哈希DR300铁离子DR300便携式铁测定仪(TPTZ法) 铁离子检测仪 铁离子比色计 样本相关资料,进一步了解产品。 哈希公司重新设计和升级了广受客户赞誉的便携式比色计PCII
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哈希DR300便携式铁测定仪(TPTZ法) 铁离子检测仪 铁离子比色计 饮用水铁离子检测
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哈希DR300便携式铁测定仪(TPTZ法) 铁离子检测仪 铁离子比色计 食品饮料铁离子检测
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iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7200ICP-AES 应用于电子/半导体
加工合成工艺的影响,在合成过程中条件稍有变化就容易生成杂质,降低材料的储能容量。另外,在锂电池的充放电循环过程中,由于铁等多种杂质元素的存在常常导致材料晶体结构的塌陷,最终会严重的影响电化学循环寿命和
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iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7200赛默飞 应用于电子/半导体
移动电话、笔记本电脑等领域;但由于受到钴酸锂原料加工合成工艺的影响,在合成过程中条件稍有变化就容易生成杂质,降低材料的储能容量。另外,在锂电池的充放电循环过程中,由于铁等多种杂质元素的存在常常导致材料
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ICP-AESiCAP 7200iCAP™ 7200 ICP-OES 等离子体光谱仪 适用于测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
加工合成工艺的影响,在合成过程中条件稍有变化就容易生成杂质,降低材料的储能容量。另外,在锂电池的充放电循环过程中,由于铁等多种杂质元素的存在常常导致材料晶体结构的塌陷,最终会严重的影响电化学循环寿命和
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