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等离子体质谱仪iCAP™ TQ赛默飞 iCAP TQ ICPMS测定高纯稀土氧化铕中铥杂质元素
干扰。方法可以在不同测定模式之间切换,采用标准溶液外标法并结合内标元素校正,避免了复杂的基体匹配及潜在污染的问题,可以满足5N及以上的高纯稀土氧化物中稀土杂质的测定要求。Reaction Finder
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Agilent 电感耦合等离子体质谱仪7900ICP-MS 采用合成基质校正方法以 ICP-MS 测定血液中的微量锰元素
安捷伦ICP-MS7900参考多项行业标准暂无。完成血液的检测。可以用在多个行业领域中的微量锰元素项目。 提升您的期望 — 新型 Agilent 7900 ICP-MS 开启了 ICP-MS
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气质单四极杆GCMSISQ 7000 适用于1,2,3-trichloropropane (1,2,3-TCP)
赛默飞单四极杆GCMSISQ 7000可用于测定Drinking Water,适用于1,2,3-trichloropropane (1,2,3-TCP) 项目。并且参考多项行业标准暂无。可应用于环境
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iCAP™ 7400 ICP-OES 等离子体光谱仪iCAP 7400赛默飞 可检测钴酸锂电池
测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量项目。 锂离子电池的正极材料目前主要有钴酸锂、锰酸锂、镍酸锂、磷酸铁锂及锂钴锰镍复合氧化物,钴酸锂作为正极材料的锂离子电池主要应用于能量密度要求高的移动电话
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iCAP 7400赛默飞iCAP™ 7400 ICP-OES 等离子体光谱仪 应用于电子/半导体
和带来安全性的潜在因素。因此,能够准确测定钴酸锂电池材料中的杂质元素含量将具有重要意义。对于光谱分析而言,钴酸锂材料中的基体钴属于典型的富线光谱元素,其波长分布范围由169.334 nm至935.7
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iCAP 7400赛默飞ICP-AES 适用于测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
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赛默飞iCAP™ 7400 ICP-OES 等离子体光谱仪ICP-AES 应用于电子/半导体
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赛默飞iCAP 7400ICP-AES iCAP 6000 Series ICP-OES法测定钴酸锂电池材料中锂及20种杂质元素含量
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ICP-AES赛默飞 系列 ICP-OES 应用于电子/半导体
影响电化学循环寿命和带来安全性的潜在因素。因此,能够准确测定钴酸锂电池材料中的杂质元素含量将具有重要意义。对于光谱分析而言,钴酸锂材料中的基体钴属于典型的富线光谱元素,其波长分布范围由169.334
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iCAP 7000 PlusICP-AES 系列 ICP-OES 可检测钴酸锂电池
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