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WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量系统
WD4000半导体晶圆粗糙度表面形貌测量系统可实现砷化镓、氮化镓、磷化镓、锗、磷化铟、铌酸锂、蓝宝石、硅、碳化硅、玻璃不同材质晶圆的量测。
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AFS-9530/9531/9532全自动双灯位双顺序注射式蒸汽发生
: 1. 适用于样品中砷、汞、硒、铅、锗、锡、锑、铋、镉、碲、锌、金等十二种元素的痕量分析。 2. 采用特制编码空芯阴极灯,仪器自动识别元素,并可监控空芯阴极灯使用寿命。 3.
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福禄克 9260 小型铟/锡/锌/铝固定点复现/保存装置
价格便宜、简单易用的固定点维护装置小巧,便携良好的稳定性及均匀性自动程序,易于使用福禄克公司计量校准部 9260 小型型固定点容器炉提供了固定点系统,与传统系统相比,在进行固定点校准时,可以节约一半
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石墨管
热解涂层平台石墨管采用先进的纵向加热石墨炉技术,实现了内温度一致,减少了化学干扰和记忆效应,这样既能保证提高雾化效率,又可延长使用寿命,保证了分析准确度。
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LC-AFS 9560液相色谱-原子荧光联用仪
样品● 软件可实现测量数据快速导入EXCEL,实现网络资源共享▄ 总量部分技术特点:● 适用于样品中砷、汞、硒、铅、锗、锡、锑、铋、镉、碲、锌、金等元素的痕量分析● 主机和注射泵顺序进样蒸气发生系统
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卓立汉光砷化铟探测器
仪器简介: ■ 砷化铟探测器(InAs) ———近红外探测器 波长范围:1-3.8μm 技术参数: 主要技术指标 型号/参数
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卓立汉光锑化铟探测器
仪器简介: ■ 锑化铟探测器(InSb) ———液氮制冷型红外探测器,波长范围:1~5.5μm 技术参数: 型号列表及主要技术指标: 型号/参数 DInSb5-De01
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卓立汉光铟镓砷探测器
仪器简介:■ 常温型铟镓砷探测器(InGaAs) ―――常温型近红外探测器,波长范围:0.8-1.7μm ■ TE制冷型铟镓砷探测器(InGaAs) ――TE制冷型近红外探测器,波长范围
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BET比表面积仪
炭黑,白碳黑,纳米碳酸钙,碳黑,白炭黑等);电池材料(如钴酸锂,锰酸锂,石墨,镍钴酸锂,氧化钴,磷酸铁锂,钛酸锂,三元素,三元素材料,聚合物,聚合物材料,聚合物电池材料,碱锰材料,锂离子材料,锂锰材料
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LC-AFS8530液相色谱原子荧光联用仪
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