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天瑞仪器 镀层测厚 EDX3600L X荧光光谱仪
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Surfix S统计型测厚仪
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膜厚测量仪FE-300
膜厚量测仪FE-300的特点测试范围涵盖薄膜到厚膜基于绝对反射率光谱分析膜厚小型・低价,精度高无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手外观新颖,操作性提高非线性*小二乘法,实现光学常数解析(n:折射率
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膜厚测量仪FE-3
膜厚量测仪FE-3的特点使用分光干涉法原理配置高精度FFT膜厚分析引擎(专利 第4834847号)可通过光纤灵活构筑测量系统可嵌入各种制造设备可实时测量膜厚支持远程遥控,多点测量采用长使用寿命,高
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OPTM 半导体膜厚测试仪
特长 Features· 膜厚测量中必要的功能集中于头部· 通过显微分光高精度测量绝对反射率(多层膜厚、光学常数)· 1点只需不到1秒的高速tact· 实现了显微下广测量波长范围的光学系(紫外~近
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赛默飞在线测厚LInspector 应用于电池/锂电池
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在线测厚Thermo Scientific SIPRO 赛默飞 适用于凸度测量
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天瑞仪器 镀层测厚 X荧光考古分析仪 EDX8000L
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数显测厚计
T0008数显测厚计,这款仪器特别用于测试制鞋材料的厚度。此款仪器压头直径为10mm,压力为1N,符合澳洲/新西兰对于制鞋皮革类材料测厚的标准要求。 应用:? 制鞋业 产品特点:? 压头压力:1N
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国产数控机床在线测头品牌
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