-
Optima8X00(PerkinElmer)
拥有突破性的功能和扩展功能,Optima 8x00 系列不仅仅是全球最受青睐的ICP-OES的技术革新。它是一场技术革命。
来源:珀金埃尔默企业管理(上海)有限公司 资料
-
当归多糖X-C-32 Ⅱ的分离纯化与组成研究
来源:l0802102 资料
-
免费下载 《x射线荧光原理》
来源:notrjhn 资料
-
纳米材料的X射线分析
来源:road 资料
-
X射线荧光分析指导课件
来源:uytdo 资料
-
X射线粉晶衍射仪
来源:msal 资料
-
Biochrom 30+ 全自动氨基酸分析仪
来源:英国柏楉公司 资料
-
Thermo Scientific NextGuard X射线检测系统
来源:赛默飞智能制作与过程分析 应用
-
Ultimate XB C18测定X15
来源:月旭科技(上海)股份有限公司 应用
-
X射线荧光仪器分析误差的来源
至关重要的因素,在样品制备方面所花的工夫将会反映在分析结果的质量上。X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面: 1. 采样误差: 非均质材料 样品的代表性 2. 样品的制备: 制样技术的
来源:uytdo 资料
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net