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TE6100-L分析天平
技术参数:TE6100-L分析天平测量范围6100 g分辨率1 g秤盘尺寸174×143 mm校准方式外部校准数据接口RS232C标准接口(串口)显示方式LCD液晶显示屏通用技术条件符合
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TE4100-L分析天平
技术参数:TE4100分析天平(TE4100-L)测量范围4100 g分辨率1 g秤盘尺寸174×143 mm校准方式外部校准数据接口RS232C标准接口(串口)显示方式LCD液晶显示屏通用
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TE4101-L分析天平
技术参数:TE4101-L分析天平(TE4101)测量范围4100 g分辨率0.1 g秤盘尺寸174×143 mm校准方式外部校准数据接口RS232C标准接口(串口)显示方式LCD液晶显示
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TE2101-L分析天平
技术参数:TE2101-L分析天平(TE2101)测量范围2100 g分辨率0.1 g秤盘尺寸174×143 mm校准方式外部校准数据接口RS232C标准接口(串口)显示方式LCD液晶显示
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TE 74 双辊试验机
室温到150°C TE 74 双辊试验机可用于研究纯滚动或滑滚运动条件下材料的磨损和滚动解除疲劳。该试验机配置两台马达,一个用于动力输入,另一个用于吸收传输的动力
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TE212-L电子天平
【简单介绍】TE212-L电子天平量 程: 210g 精 度: 0.01g【详细说明】电子天平TE212-L技术参数量 程: 210g精 度: 0.01g称盘尺寸: ф116mm线 性
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TE124S电子天平
技术参数:量程120g可读性0.1mg校准外校秤盘尺寸Ø 90 mm显示器LCD数据接口RS232C标准接口 赛多利斯 TE 系列分析天平是您进行简单称重操作时的选择:价格经济,高品质
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荷兰TE紫外荧光定硫仪
技术参数:·检测原理:紫外荧光定硫/化学发光定氮·样品:固体,液体和气体·测量范围:S:20 ppb—10000ppm N:20 ppb—10000ppm·zei小检测限:10 ppb·规格
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TE214S电子天平
技术参数: 量程210g可读性0.1mg校准外校秤盘尺寸Ø 90 mm显示器LCD数据接口RS232C标准接口 赛多利斯 TE 系列分析天平是您进行简单称重操作时的选择:价格经济,高品质
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Bi2Se2Te晶体
产品名称:Bi2Se2Te晶体产品简介:常规热电材料,是当前热电因子最大的纯相块体,机械解离可以获得优质的拓扑绝缘体材料.绝缘性好,电阻率高,迁移率好。产品参数:晶向:Hexagonal
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