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硅漂移探测器牛津仪器X-Max TEM 可检测Semiconductors
cps下保证Mn的分辨率优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素
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牛津仪器X-Max TEM硅漂移探测器 可检测岩石
效率与低能端X射线的高灵敏度出色的分辨率,在50,000cps下保证Mn的分辨率优化的检出角,可获得高质量的峰背比和轻元素检测能力其出色的表现在所有类别TEM上均得到验证,包括场发射、球差校正电镜利用
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X-Max TEM硅漂移探测器牛津仪器 可检测Fluids
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日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系统
EM-05500TGP TEM断层扫描系统TEM断层扫描系统采用独特算法的软件,实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。产品特点:精细的三维重构系统TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜
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透射电镜(TEM)
透射电子显微镜(Transmission Electron Microscope,简称TEM),是把经加速和聚集的电子束投射到非常薄的样品上,电子与样品中的原子碰撞而改变方向
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透射电镜(TEM)
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日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系统 Recorder
重构系统TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。为使电子断层扫描特有的各种调整能够自动化,TEM断层扫描系统采用了独特算法的软件(Recorder、Composer和
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日本电子EM-05500TGP TEM断层扫描系统 Composer
TEM断层扫描系统实现了从获取连续倾斜图像到三维重构整个过程的自动化。为使电子断层扫描特有的各种调整能够自动化,TEM断层扫描系统采用了独特算法的软件(Recorder、Composer和
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牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器 用于元素面分布
Ultim Max TLE是 牛津仪器TEM系列的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
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牛津仪器X-Max TEM 大面积硅漂移探测器 定量分析
Ultim Max TLE是 牛津仪器TEM系列的旗舰款SDD能谱探测器,经过设计优化,提高了小束斑下的计数率,可表征原子尺度的元素信息。
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