-
安捷伦 案例研究:案例研究:减少使用电子表格,节省成本,降低数据可靠性风险
的安捷伦服务和支持。凭借安捷伦于实验室领域的 60 多年的宝贵经验, CrossLab 为安捷伦及多厂商的设备维护、仪器认证、员工培训、库存设备管理的最佳服务和支持模式,并给出业务见解与建议。可使您
-
EDSX-Max TEM硅漂移探测器 可检测Semiconductors
软件计算有助于快速获取元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有
-
X-Max TEM硅漂移探测器EDS 应用于高分子材料
-
X-Max TEM硅漂移探测器牛津仪器 适用于Polymer Materials
分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是对于
-
牛津仪器X-Max TEM硅漂移探测器 可检测Metals
差校正电镜利用AZtecTEM TruMap软件计算有助于快速获取元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的
-
牛津仪器X-Max TEM硅漂移探测器 应用于纳米材料
实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是对于轻元素
-
硅漂移探测器牛津仪器EDS 应用于汽车/铁路/船舶
-
硅漂移探测器X-Max TEMEDS 适用于Nano Material
底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是对于轻元素,意味着所有
-
EDSX-Max TEM牛津仪器 可检测Polymer
元素分布图,包括实时背底扣除及重叠峰剥离处理X-MaxN TSR这种基于TEM应用的无窗硅漂移型探测器提供0.3至0.7球面度范围内的采集立体角。它对整个X射线能量范围内都有着非常好的采集效率,尤其是
-
X-Max TEM牛津仪器硅漂移探测器 应用于电子/半导体
想在此推广您的产品吗?
咨询热线: 010-84839035
联系邮箱: sales@antpedia.net